Aplikace z oblasti Materiálová analýza | LabRulez ICPMS
Analysis of Nitrogen in Low Alloy Steel
Aplikace
| N/A | Shimadzu
Optická emisní spektrometrie
Instrumentace
Optická emisní spektrometrie
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Lead in lead-free solder – EDX-720
Ostatní
| 2006 | Shimadzu
X-ray
Instrumentace
X-ray
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Quantification of embedded H2O in soft contact lenses by NIR spectroscopy
Aplikace
| N/A | Metrohm
NIR Spektroskopie
Instrumentace
NIR Spektroskopie
Výrobce
Metrohm
Zaměření
Materiálová analýza
WCPS: Direct determination of Al, B, Co, Cr, Mo, Ti, V and Zr in HF acid-digested nickel alloy using the Agilent 4210 MP-AES
Postery
| 2017 | Agilent Technologies
MP/ICP-AES
Instrumentace
MP/ICP-AES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
EDXRF Analysis of PM2.5 (Particle Matter)
Aplikace
| 2013 | Shimadzu
X-ray
Instrumentace
X-ray
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Laser Ablation (LA)-ICP-MS for Production Control of Nickel Alloys
Aplikace
| 2005 | Agilent Technologies
ICP/MS, Laserová ablace
Instrumentace
ICP/MS, Laserová ablace
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Near-infrared spectroscopy: Comparison of techniques
Technické články
| 2017 | Metrohm
NIR Spektroskopie
Instrumentace
NIR Spektroskopie
Výrobce
Metrohm
Zaměření
Materiálová analýza
Analysis of pulp and paper using near-infrared spectroscopy
Příručky
| N/A | Metrohm
NIR Spektroskopie
Instrumentace
NIR Spektroskopie
Výrobce
Metrohm
Zaměření
Materiálová analýza
Direct determination of Al, B, Co, Cr, Mo, Ti, V and Zr in HF acid-digested nickel alloy using the Agilent 4210 Microwave Plasma-Atomic Emission Spectrometer
Aplikace
| 2016 | Agilent Technologies
MP/ICP-AES
Instrumentace
MP/ICP-AES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Measuring Multiple Elements in Nanoparticles using spICP-MS
Aplikace
| 2021 | Agilent Technologies
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Životní prostředí, Potraviny a zemědělství, Materiálová analýza, Ostatní