Aplikace z oblasti Materiálová analýza | LabRulez ICPMS
Alternative Method for Determination of Total Organic Carbon in Certified Pre-Cleaned Glass Containers
Aplikace
| 2017 | Shimadzu
TOC
Instrumentace
TOC
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
ANALYSIS OF EXTRACTABLE AND LEACHABLE METALS IN PLASTIC MATERIALS OF CONSTRUCTION AS PER USP <661.1> ACID EXTRACTION PROCEDURE USING THE AGILENT 5110 VDV ICP-OES
Aplikace
| 2016 | Agilent Technologies
LC/Orbitrap, ICP/OES
Instrumentace
LC/Orbitrap, ICP/OES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
On-site detection of hexavalent chromium in protective paint primers
Technické články
| 2021 | Metrohm
RAMAN Spektrometrie
Instrumentace
RAMAN Spektrometrie
Výrobce
Metrohm
Zaměření
Materiálová analýza
Observation of Wireless Earphones Using a Microfocus X-ray Inspection System
Aplikace
| 2023 | Shimadzu
X-ray
Instrumentace
X-ray
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Product Catalogue ALS EUROPE (WASTE)
Brožury a specifikace
| N/A | ALS Europe
GC, GC/MSD, GC/HRMS, ICP/OES, Elektrochemie
Instrumentace
GC, GC/MSD, GC/HRMS, ICP/OES, Elektrochemie
Výrobce
Zaměření
Životní prostředí, Průmysl a chemie, Materiálová analýza, Ostatní
LiDAR Evaluation System: Measurement of Transmittance/Reflectance of Optical Materials
Aplikace
| 2021 | Shimadzu
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Measuring the UV protection factor (UPF) of fabrics and clothing
Aplikace
| 2011 | Agilent Technologies
UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Gaining Deeper Insights into Thin Film Response
Aplikace
| 2022 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Evaluation of the Quantity of CO2 Emitted by Combustion of Paper Products
Aplikace
| 2022 | Shimadzu
TOC
Instrumentace
TOC
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Introducing the XSeeker 8000 Bench-Top X-Ray CT System