Aplikace z oblasti Materiálová analýza | LabRulez ICPMS

On-site detection of hexavalent chromium in protective paint primers

Technické články

| 2021 | Metrohm

RAMAN Spektrometrie

Instrumentace

RAMAN Spektrometrie

Výrobce

Metrohm

Zaměření

Materiálová analýza

Coated Wafer Mapping Using UV-Vis Spectral Reflection and Transmission Measurements

Aplikace

| 2020 | Agilent Technologies

NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie

Instrumentace

NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie

Výrobce

Agilent Technologies

Zaměření

Materiálová analýza, Polovodiče

ANALYSIS OF EXTRACTABLE AND LEACHABLE METALS IN PLASTIC MATERIALS OF CONSTRUCTION AS PER USP <661.1> ACID EXTRACTION PROCEDURE USING THE AGILENT 5110 VDV ICP-OES

Aplikace

| 2016 | Agilent Technologies

LC/Orbitrap, ICP/OES

Instrumentace

LC/Orbitrap, ICP/OES

Výrobce

Agilent Technologies

Zaměření

Materiálová analýza

X-ray Fluorescence Analysis of Lead in Tin Plating Using Theoretical Intensity of Scattered X-rays - Analysis of RoHS Regulated Elements by Energy Dispersive X-ray Fluorescence Spectrometer (EDX)

Aplikace

| N/A | Shimadzu

X-ray

Instrumentace

X-ray

Výrobce

Shimadzu

Zaměření

Materiálová analýza

Comparison of Calibration Curves of Lead, Cadmium and Chromium in Zinc Alloy and Copper Alloy

Aplikace

| N/A | Shimadzu

X-ray

Instrumentace

X-ray

Výrobce

Shimadzu

Zaměření

Materiálová analýza

EDX-FTIR Contaminant Finder/Material Inspector

Brožury a specifikace

| 2016 | Shimadzu

FTIR Spektroskopie, X-ray

Instrumentace

FTIR Spektroskopie, X-ray

Výrobce

Shimadzu

Zaměření

Materiálová analýza

Analysis of Foreign Matter Using CCD

Aplikace

| N/A | Shimadzu

X-ray

Instrumentace

X-ray

Výrobce

Shimadzu

Zaměření

Materiálová analýza

Accurate Determination of TiO2 Nanoparticles in Complex Matrices using the Agilent 8900 ICP-QQQ

Aplikace

| 2017 | Agilent Technologies

ICP/MS, ICP/MS/MS

Instrumentace

ICP/MS, ICP/MS/MS

Výrobce

Agilent Technologies

Zaměření

Životní prostředí, Potraviny a zemědělství, Materiálová analýza

Spectrophotometric Spatial Profiling of Coated Optical Wafers

Aplikace

| 2020 | Agilent Technologies

NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie

Instrumentace

NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie

Výrobce

Agilent Technologies

Zaměření

Materiálová analýza

Quantitative Analysis of Amount of Deposition and Plating Thickness: Multilayer and Irregular Shaped Sample

Aplikace

| 2021 | Shimadzu

X-ray

Instrumentace

X-ray

Výrobce

Shimadzu

Zaměření

Materiálová analýza

Před
1
2
...
Další

Aplikace z oblasti Materiálová analýza | LabRulez ICPMS

On-site detection of hexavalent chromium in protective paint primers

Coated Wafer Mapping Using UV-Vis Spectral Reflection and Transmission Measurements

ANALYSIS OF EXTRACTABLE AND LEACHABLE METALS IN PLASTIC MATERIALS OF CONSTRUCTION AS PER USP <661.1> ACID EXTRACTION PROCEDURE USING THE AGILENT 5110 VDV ICP-OES

X-ray Fluorescence Analysis of Lead in Tin Plating Using Theoretical Intensity of Scattered X-rays - Analysis of RoHS Regulated Elements by Energy Dispersive X-ray Fluorescence Spectrometer (EDX)

Comparison of Calibration Curves of Lead, Cadmium and Chromium in Zinc Alloy and Copper Alloy

EDX-FTIR Contaminant Finder/Material Inspector

Analysis of Foreign Matter Using CCD

Accurate Determination of TiO2 Nanoparticles in Complex Matrices using the Agilent 8900 ICP-QQQ

Spectrophotometric Spatial Profiling of Coated Optical Wafers

Quantitative Analysis of Amount of Deposition and Plating Thickness: Multilayer and Irregular Shaped Sample

Mohlo by Vás zajímat

Nový systém čištění vody ELGA Purelab Flex

FACT …to funguje (Agilent ICP-OES)

Podcast CHEmic #27 – Je třeba změnit výuku chemie i učebnice, myslí si Adam Jaroš z ÚOCHB