ICPMS
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
    1. Databáze

    1. Zaměření

    1. Instrumentace

    1. Výrobce

    1. Autor

    1. Typ Publikace

    1. Rok vydání

    Aplikace z oblasti Materiálová analýza | LabRulez ICPMS

    Transmission Measurements of Solid Samples at Variable Angles of Incidence by UV-Vis

    Aplikace
    | 2024 | Agilent Technologies
    UV–VIS Spektrofotometrie
    Instrumentace
    UV–VIS Spektrofotometrie
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Spectrophotometric Spatial Profiling of Coated Optical Wafers

    Aplikace
    | 2020 | Agilent Technologies
    NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
    Instrumentace
    NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Instruments for Analyzing / Evaluating Electronic Device

    Brožury a specifikace
    | 2022 | Shimadzu
    GC/MSD, HeadSpace, Termální desorpce, Pyrolýza, GC/SQ, Iontová chromatografie, NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie, ICP/MS, ICP/OES, AAS, FTIR Spektroskopie, Mikroskopie, X-ray, TOC
    Instrumentace
    GC/MSD, HeadSpace, Termální desorpce, Pyrolýza, GC/SQ, Iontová chromatografie, NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie, ICP/MS, ICP/OES, AAS, FTIR Spektroskopie, Mikroskopie, X-ray, TOC
    Výrobce
    Shimadzu
    Zaměření
    Materiálová analýza, Polovodiče

    The characterization of optical components using the Cary Deep UV spectrophotometer and ‘VW’ specular reflectance accessory

    Aplikace
    | 2011 | Agilent Technologies
    UV–VIS Spektrofotometrie
    Instrumentace
    UV–VIS Spektrofotometrie
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Materiálová analýza

    The deep ultraviolet spectroscopic properties of a next-generation photoresist

    Aplikace
    | 2011 | Agilent Technologies
    UV–VIS Spektrofotometrie
    Instrumentace
    UV–VIS Spektrofotometrie
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Materiálová analýza, Polovodiče

    High Volume Optical Component Testing

    Aplikace
    | 2020 | Agilent Technologies
    NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
    Instrumentace
    NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Gaining Deeper Insights into Thin Film Response

    Aplikace
    | 2022 | Agilent Technologies
    NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
    Instrumentace
    NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Materiálová analýza

    The use of Desorption ElectroSpray Ionisation with a novel heated transfer line for the analysis of lubricated surfaces

    Postery
    | 2021 | Waters (ASMS)
    MS Imaging, LC/TOF, LC/HRMS, LC/MS, LC/MS/MS
    Instrumentace
    MS Imaging, LC/TOF, LC/HRMS, LC/MS, LC/MS/MS
    Výrobce
    Waters
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Automobile Evaluation Instruments

    Ostatní
    | 2016 | Shimadzu
    GC/MSD, Termální desorpce, HPLC
    Instrumentace
    GC/MSD, Termální desorpce, HPLC
    Výrobce
    Shimadzu
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Absolute Reflectance Measurement of Anti-Reflective Film for Solar Cells Using the SolidSpec-3700

    Aplikace
    | N/A | Shimadzu
    NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
    Instrumentace
    NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
    Výrobce
    Shimadzu
    Zaměření
    Materiálová analýza
     

    Mohlo by Vás zajímat


    Nový systém čištění vody ELGA Purelab Flex

    St, 8.5.2024
    Česká voda – MEMSEP, a.s.

    FACT …to funguje (Agilent ICP-OES)

    Út, 7.5.2024
    Altium International

    LABOREXPO & PROCESEXPO 2024 (doprovodný odborný program)

    Čt, 16.5.2024
    LabRulez
    Další projekty
    Sledujte nás
    Další informace
    WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
    LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.