Aplikace se zaměřením na RAMAN Spektrometrie od Metrohm | LabRulez ICPMS
On-site Identification of Improvised Incendiary Devices: Integrated Chemical ID and Decision Guidance with MIRA DS and HazMasterG3
Technické články
| 2021 | Metrohm
RAMAN Spektrometrie
Instrumentace
RAMAN Spektrometrie
Výrobce
Metrohm
Zaměření
Nebezpečné látky
Mira DS Handheld Identification System
Brožury a specifikace
| 2020 | Metrohm
RAMAN Spektrometrie
Instrumentace
RAMAN Spektrometrie
Výrobce
Metrohm
Zaměření
Nebezpečné látky
2060 Human Interface
Brožury a specifikace
| 2021 | Metrohm
RAMAN Spektrometrie, NIR Spektroskopie
Instrumentace
RAMAN Spektrometrie, NIR Spektroskopie
Výrobce
Metrohm
Zaměření
Průmysl a chemie
Mira P Handheld Raman Spectrometer
Brožury a specifikace
| 2018 | Metrohm
RAMAN Spektrometrie
Instrumentace
RAMAN Spektrometrie
Výrobce
Metrohm
Zaměření
Materiálová analýza
Mira Flex Packages
Brožury a specifikace
| 2019 | Metrohm
RAMAN Spektrometrie
Instrumentace
RAMAN Spektrometrie
Výrobce
Metrohm
Zaměření
The NanoRam Hand-held Raman Spectrometer: Full Regulatory Compliance for the Inspection of Raw Materials and Chemicals Used in the Pharmaceutical Industry
Technické články
| N/A | Metrohm
RAMAN Spektrometrie
Instrumentace
RAMAN Spektrometrie
Výrobce
Metrohm
Zaměření
Farmaceutická analýza
Pros and Cons of Using Correlation versus Multivariate Algorithms for Material Identification via Handheld Spectroscopy
Technické články
| 2019 | Metrohm
RAMAN Spektrometrie
Instrumentace
RAMAN Spektrometrie
Výrobce
Metrohm
Zaměření
Materiálová analýza
Smart Acquire - Automated Raman Material ID for Defense and Security Professionals
Technické články
| 2018 | Metrohm
RAMAN Spektrometrie
Instrumentace
RAMAN Spektrometrie
Výrobce
Metrohm
Zaměření
Forenzní analýza a toxikologie, Nebezpečné látky
Portable Raman Spectroscopy in Forensics: Explosive Residues and Inflammable Liquids
Technické články
| 2017 | Metrohm
RAMAN Spektrometrie
Instrumentace
RAMAN Spektrometrie
Výrobce
Metrohm
Zaměření
Forenzní analýza a toxikologie, Nebezpečné látky
Fluorescence-free 785 nm material identification with MIRA XTR DS