Aplikace se zaměřením na ICP/MS od Agilent Technologies | LabRulez ICPMS
Characterization of Surface Metal Contamination on Silicon Wafers Using Surface Metal Extraction Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometry (SME- ICP-MS)
Aplikace
| 2001 | Agilent Technologies
ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Determination of iopromide in environmental waters by ion chromatography-ICP-MS
Aplikace
| 2012 | Agilent Technologies
ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Životní prostředí
Determination of Ultratrace Impurities in Semiconductor Photoresist Using ICP-MS/MS
Aplikace
| 2023 | Agilent Technologies
ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies