Characterization of Trace Impurities in Silicon Wafers by High Sensitivity Reaction Cell ICP-MS
Aplikace
| 2003 | Agilent Technologies
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Agilent 7900 ICP-MS brochure
Brožury a specifikace
| 2020 | Agilent Technologies
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Characterization of Surface Metal Contamination on Silicon Wafers Using Surface Metal Extraction Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometry (SME- ICP-MS)
Aplikace
| 2001 | Agilent Technologies
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Ultra-Trace Analysis of Beryllium in Water and Industrial Hygiene Samples by ICP-MS
Aplikace
| 2006 | Agilent Technologies
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Životní prostředí
Direct Analysis of 13 Trace Elements in Tea Infusions using ICP-MS with Integrated Sample Introduction System in Discrete Sampling (ISIS-DS)
Aplikace
| 2017 | Agilent Technologies
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Potraviny a zemědělství
Agilent Atomic Spectroscopy - Safety Information
Manuály
| 2022 | Agilent Technologies
ICP/MS, ICP/OES, ICP/MS/MS, MP/ICP-AES
Instrumentace
ICP/MS, ICP/OES, ICP/MS/MS, MP/ICP-AES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Agilent 8900 Triple Quadrupole ICP-MS
Technické články
| 2016 | Agilent Technologies
ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Trace elemental analysis of distilled alcoholic beverages using the Agilent 7700x ICP-MS with octopole collision/ reaction cell