ICPMS
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
    1. Databáze

    1. Zaměření

    1. Instrumentace

    1. Výrobce

    1. Autor

    1. Typ Publikace

    1. Rok vydání

    Aplikace se zaměřením na ICP/MS | LabRulez ICPMS

    Ion Lens Design

    Technické články
    | 2021 | Agilent Technologies
    ICP/MS
    Instrumentace
    ICP/MS
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření

    General Features of the New Agilent 7500 ICP-MS

    Brožury a specifikace
    | 2000 | Agilent Technologies
    ICP/MS
    Instrumentace
    ICP/MS
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření

    Single Quadrupole ICP-MS vs Triple Quadrupole ICP-MS

    Příručky
    | 2022 | Agilent Technologies
    ICP/MS, ICP/MS/MS
    Instrumentace
    ICP/MS, ICP/MS/MS
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření

    IMSC: A New Design of Ion Lens and Collision/Reaction Cell for ICP-MS

    Postery
    | 2009 | Agilent Technologies
    ICP/MS
    Instrumentace
    ICP/MS
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření

    A New Design of Ion Lens and Collision/Reaction Cell for ICP-MS

    Postery
    | N/A | Agilent Technologies
    ICP/MS
    Instrumentace
    ICP/MS
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření

    WCPS: Analysis of radioactive iodine-129 by ICP-QQQ using MS/MS mode and a new octopole reaction cell with axial acceleratio

    Postery
    | 2017 | Agilent Technologies
    ICP/MS, ICP/MS/MS
    Instrumentace
    ICP/MS, ICP/MS/MS
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Životní prostředí, Průmysl a chemie

    APWC: Analysis of radioactive iodine-129 by ICP-QQQ using MS/MS mode and an octopole reaction cell with axial acceleration

    Postery
    | 2017 | Agilent Technologies
    ICP/MS, ICP/MS/MS
    Instrumentace
    ICP/MS, ICP/MS/MS
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Životní prostředí

    Basic Performance of the Agilent 7700s ICP-MS for the Analysis of Semiconductor Samples

    Technické články
    | 2010 | Agilent Technologies
    ICP/MS
    Instrumentace
    ICP/MS
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Polovodiče

    Technical Overview and Performance Capability of the Agilent 7900s ICP-MS for Semiconductor Applications

    Technické články
    | 2020 | Agilent Technologies
    ICP/MS
    Instrumentace
    ICP/MS
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Polovodiče

    Analysis of Elemental Impurities in Lithium-Ion Battery Electrolyte Solvents by ICP-MS

    Aplikace
    | 2023 | Agilent Technologies
    ICP/MS
    Instrumentace
    ICP/MS
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Průmysl a chemie, Materiálová analýza
     

    Mohlo by Vás zajímat


    ANALYTIKA: Setkejte se s námi na veletrzích a konferencích

    Po, 22.4.2024
    ANALYTIKA

    Představení systému Metrohm OMNIS NIRS

    Po, 22.4.2024
    Metrohm Česká republika

    LECO/MERCI Seminář Biomasa 2024

    Po, 29.4.2024
    LECO
    Další projekty
    Sledujte nás
    Další informace
    WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
    LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.