ICPMS
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
    1. Databáze

    1. Zaměření

    1. Instrumentace

    1. Výrobce

    1. Autor

    1. Typ Publikace

    1. Rok vydání

    Aplikace se zaměřením na ICP/MS/MS | LabRulez ICPMS

    Recommended ICP-MS consumables to keep your lab online and productive

    Příručky
    | 2021 | Agilent Technologies
    Spotřební materiál, ICP/MS, ICP/MS/MS
    Instrumentace
    Spotřební materiál, ICP/MS, ICP/MS/MS
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření

    Using ICP-MS/MS with M-Lens for the analysis of high silicon matrix samples

    Postery
    | 2020 | Agilent Technologies (ASMS)
    ICP/MS, ICP/MS/MS
    Instrumentace
    ICP/MS, ICP/MS/MS
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Polovodiče

    Direct Analysis of Trace Metal Impurities in High Purity Nitric Acid Using ICP-QQQ

    Aplikace
    | 2018 | Agilent Technologies
    ICP/MS, ICP/MS/MS
    Instrumentace
    ICP/MS, ICP/MS/MS
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Polovodiče

    Agilent Atomic Spectroscopy Solutions for the Semiconductor Industry

    Příručky
    | 2020 | Agilent Technologies
    ICP/MS, ICP/OES, AAS, ICP/MS/MS, MP/ICP-AES
    Instrumentace
    ICP/MS, ICP/OES, AAS, ICP/MS/MS, MP/ICP-AES
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Polovodiče

    Agilent Atomic Spectroscopy - Safety Information

    Manuály
    | 2022 | Agilent Technologies
    ICP/MS, ICP/OES, ICP/MS/MS, MP/ICP-AES
    Instrumentace
    ICP/MS, ICP/OES, ICP/MS/MS, MP/ICP-AES
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření

    Analysis of Ultratrace Impurities in High Silicon Matrix Samples by ICP-QQQ

    Aplikace
    | 2021 | Agilent Technologies
    ICP/MS, ICP/MS/MS
    Instrumentace
    ICP/MS, ICP/MS/MS
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Polovodiče

    Improvement of ICP-MS detectability of phosphorus and titanium in high purity silicon samples using the Agilent 8800 Triple Quadrupole ICP-MS

    Aplikace
    | 2013 | Agilent Technologies
    ICP/MS, ICP/MS/MS
    Instrumentace
    ICP/MS, ICP/MS/MS
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Polovodiče

    Routine soil analysis using an Agilent 8800 ICP-QQQ

    Aplikace
    | 2015 | Agilent Technologies
    ICP/MS, ICP/MS/MS
    Instrumentace
    ICP/MS, ICP/MS/MS
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Životní prostředí

    This is How you ICP-MS: Mastering the Art of Cone Performance

    Technické články
    | 2019 | Agilent Technologies
    ICP/MS, ICP/MS/MS
    Instrumentace
    ICP/MS, ICP/MS/MS
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření

    Direct Analysis of Metallic Impurities in SiC and GaN Wafers by LA-GED-MSAG-ICP-MS/MS

    Aplikace
    | 2023 | Agilent Technologies
    ICP/MS, ICP/MS/MS, Laserová ablace
    Instrumentace
    ICP/MS, ICP/MS/MS, Laserová ablace
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Polovodiče
     

    Mohlo by Vás zajímat


    FACT …to funguje (Agilent ICP-OES)

    Út, 7.5.2024
    Altium International

    Altium: Akční nabídka květen - srpen 2024

    Út, 14.5.2024
    Altium International

    CSSC & MSMS 2024 (Program konference, přednášející)

    Út, 14.5.2024
    Spektroskopická společnost Jana Marka Marci
    Další projekty
    Sledujte nás
    Další informace
    WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
    LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.