Rozcestník
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
Aplikace od Agilent Technologies | LabRulez ICPMS
WCPS: Validating ICP-MS Using USP<232>/<233> for Elemental Impurity Analysis in Pharmaceutical Products
Postery
| 2012 | Agilent Technologies
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Farmaceutická analýza
Analysis of Platinum Group Elements (PGEs) in road dust using the Agilent 8900 Triple Quadrupole ICP-MS in MS/MS mode
Postery
| N/A | Agilent Technologies
ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Životní prostředí
WCPS: High Accuracy and High Precision Determinations of Precious Metals and Platinum Group Metals using Inductively Coupled Plasma Spectroscopy
Postery
| 2018 | Agilent Technologies
ICP/OES
Instrumentace
ICP/OES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Průmysl a chemie
WCPS: Determination of ultra-trace level impurities in high-purity metal samples by ICP-QQQ
Postery
| 2017 | Agilent Technologies
ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
WCPS: Elemental Differences In Single Vineyard Pinot noir Wines From Six Neighborhoods within One Wine Region
Postery
| 2017 | Agilent Technologies
ICP/MS, ICP/MS/MS, MP/ICP-AES
Instrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS, MP/ICP-AES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Potraviny a zemědělství
WCPS: High Accuracy Standard Addition ICP-MS Analysis of Elemental Impurities in Electrolyte Used for Lithium-Ion Batteries
Postery
| 2023 | Agilent Technologies
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Průmysl a chemie
Agilent Atomic Spectroscopy: AA, MP-AES, ICP-OES, ICP-MS, ICP-QQQ
Postery
| 2021 | Agilent Technologies
ICP/MS, ICP/OES, AAS, ICP/MS/MS, MP/ICP-AES
Instrumentace
ICP/MS, ICP/OES, AAS, ICP/MS/MS, MP/ICP-AES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
WCPS: Ultratrace Analysis of Phosphorus, Boron and Other Impurities in Photovoltaic Silicon and Trichlorosilane by ICP-MS with High Energy Collision Cell
Postery
| 2011 | Agilent Technologies
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.