Aplikace od Agilent Technologies | LabRulez ICPMS

Solid Sample Holder

Brožury a specifikace

| 2021 | Agilent Technologies

NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie

Instrumentace

NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie

Výrobce

Agilent Technologies

Zaměření

Quality Control of Beam Splitters and Quarter-Wave-Mirrors

Technické články

| 2020 | Agilent Technologies

NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie

Instrumentace

NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie

Výrobce

Agilent Technologies

Zaměření

Materiálová analýza

Photometric linearity and range of the new generation Cary 4000/5000/6000i Spectrophotometers

Brožury a specifikace

| 2011 | Agilent Technologies

NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie

Instrumentace

NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie

Výrobce

Zaměření

Agilent Beam Enhancer Technology for High-Speed Transmission Raman Spectroscopy

Aplikace

| 2018 | Agilent Technologies

RAMAN Spektrometrie

Instrumentace

RAMAN Spektrometrie

Výrobce

Agilent Technologies

Zaměření

Farmaceutická analýza

Composite thermal damage – correlation of short beam shear data with FTIR spectroscopy

Aplikace

| 2015 | Agilent Technologies

FTIR Spektroskopie

Instrumentace

FTIR Spektroskopie

Výrobce

Agilent Technologies

Zaměření

Materiálová analýza

Measuring baseline-corrected spectra on a Cary 60 UV-Vis

Technické články

| 2011 | Agilent Technologies

UV–VIS Spektrofotometrie

Instrumentace

UV–VIS Spektrofotometrie

Výrobce

Agilent Technologies

Zaměření

Spectrophotometric Spatial Profiling of Coated Optical Wafers

Aplikace

| 2020 | Agilent Technologies

NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie

Instrumentace

NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie

Výrobce

Agilent Technologies

Zaměření

Materiálová analýza

Unique Benefits of the Small Beam Geometry of the Agilent Cary 60 UV-Visible Spectrophotometer

Technické články

| 2014 | Agilent Technologies

UV–VIS Spektrofotometrie

Instrumentace

UV–VIS Spektrofotometrie

Výrobce

Agilent Technologies

Zaměření

The characterization of optical components using the Cary Deep UV spectrophotometer and ‘VW’ specular reflectance accessory

Aplikace

| 2011 | Agilent Technologies

UV–VIS Spektrofotometrie

Instrumentace

UV–VIS Spektrofotometrie

Výrobce

Agilent Technologies

Zaměření

Materiálová analýza

Characterizing sub-nanometer narrow bandpass filters using a Cary 400/500

Aplikace

| 2011 | Agilent Technologies

UV–VIS Spektrofotometrie

Instrumentace

UV–VIS Spektrofotometrie

Výrobce

Agilent Technologies

Zaměření

Materiálová analýza

Před
1
2
...
Další

Aplikace od Agilent Technologies | LabRulez ICPMS

Solid Sample Holder

Quality Control of Beam Splitters and Quarter-Wave-Mirrors

Photometric linearity and range of the new generation Cary 4000/5000/6000i Spectrophotometers

Agilent Beam Enhancer Technology for High-Speed Transmission Raman Spectroscopy

Composite thermal damage – correlation of short beam shear data with FTIR spectroscopy

Measuring baseline-corrected spectra on a Cary 60 UV-Vis

Spectrophotometric Spatial Profiling of Coated Optical Wafers

Unique Benefits of the Small Beam Geometry of the Agilent Cary 60 UV-Visible Spectrophotometer

The characterization of optical components using the Cary Deep UV spectrophotometer and ‘VW’ specular reflectance accessory

Characterizing sub-nanometer narrow bandpass filters using a Cary 400/500

Mohlo by Vás zajímat

Altium: Akční nabídka květen - srpen 2024

Konfigurátor roztoků ANALYTIKA – tvorba roztoku na míru

Pozvánka na Laborexpo - stánek SHIMADZU