Rozcestník
Novinky
Novinky
Nejbližší akce
Akademie - již brzy
Knihovna
ICPMS
GCMS
LCMS
Webináře
Webináře
Produkty
Přístroje a služby
Bazar
Společnosti
Komerční
Nekomerční
Mediální
Kariéra
Nabídky práce
Další informace
Webináře
O nás
Kontaktujte nás
Podmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
Novinky
Knihovna
Webináře
Produkty
Společnosti
Kariéra
Novinky
Nejbližší akce
Akademie - již brzy
ICPMS
GCMS
LCMS
Webináře
Přístroje a služby
Bazar
Komerční
Nekomerční
Mediální
Nabídky práce
Databáze
ICPMS
GCMS
LCMS
Zaměření
Forenzní analýza a toxikologie
(1)
Klinická analýza
(1)
Materiálová analýza
(10)
Polovodiče
(4)
Instrumentace
AAS
(4)
FTIR Spektroskopie
(8)
Fluorescenční spektroskopie
(1)
ICP/MS
(14)
Výrobce
Agilent Technologies
(47)
CEM
(1)
Metrohm
(1)
Autor
Agilent Technologies
Metrohm
(9)
RAFA
(3)
Shimadzu
(20)
Agilent Technologies
Typ Publikace
Aplikace
(14)
Brožury a specifikace
(5)
Manuály
(12)
Ostatní
(3)
Rok vydání
Aplikace od Agilent Technologies | LabRulez ICPMS
Agilent MS40+
Brožury a specifikace
| 2011 | Agilent Technologies
GC/MSD, LC/MS, ICP/MS
Instrumentace
GC/MSD, LC/MS, ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Wavelength Calibration, Overranges & Zero Order Troubleshooting Hints For The 4100 MP-AES
Prezentace
| 2012 | Agilent Technologies
MP/ICP-AES
Instrumentace
MP/ICP-AES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Quantification and Characterization of Sulfur in Low-Sulfur Reformulated Gasolines by GC-ICP-MS
Aplikace
| 2003 | Agilent Technologies
GC, ICP/MS, Speciační analýza
Instrumentace
GC, ICP/MS, Speciační analýza
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Průmysl a chemie
ICP-MS: The Ultimate GC Detector
Postery
| N/A | Agilent Technologies
GC, ICP/MS, Speciační analýza
Instrumentace
GC, ICP/MS, Speciační analýza
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
ICP-MS : The Ultimate GC Detector
Postery
| 2010 | Agilent Technologies
GC, ICP/MS, Speciační analýza
Instrumentace
GC, ICP/MS, Speciační analýza
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Damage-free failure/defect analysis in electronics and semiconductor industries using micro-ATR FTIR imaging
Aplikace
| 2014 | Agilent Technologies
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza, Polovodiče
Imaging - what is it and how is it implemented?
Technické články
| 2011 | Agilent Technologies
FTIR Spektroskopie, Mikroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie, Mikroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Onsite FTIR quantitative analysis of water in mineral-based oils using a novel water stabilization technique
Aplikace
| 2013 | Agilent Technologies
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Průmysl a chemie
Agilent I-AS Clean Autosampler
Ostatní
| 2022 | Agilent Technologies
ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
General Features of the New Agilent 7500 ICP-MS
Brožury a specifikace
| 2000 | Agilent Technologies
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Před
1
2
...
Další
Mohlo by Vás zajímat
Přednáška LABOREXPO 2024: Ramanova spektroskopie: Novinky a trendy
Čt, 23.5.2024
LabRulez
Podcast CHEmic #28 – Věda je život mezi extází a depresí, ale neměnila bych, říká Marcela Krečmerová
Čt, 23.5.2024
Ústav organické chemie a biochemie AV ČR
Středoškolská odborná činnost neboli SOČ – brána do světa vědy
Čt, 23.5.2024
Vědavýzkum.cz
Další projekty
Sledujte nás
Další informace
Webináře
O nás
Kontaktujte nás
Podmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.