Aplikace od Agilent Technologies | LabRulez ICPMS

Detection of trace contamination on metal surfaces using the handheld Agilent 4100 ExoScan FTIR

Aplikace

| 2015 | Agilent Technologies

FTIR Spektroskopie

Instrumentace

FTIR Spektroskopie

Výrobce

Agilent Technologies

Zaměření

Materiálová analýza

Measurement of composite surface contamination using the Agilent 4100 ExoScan FTIR with diffuse reflectance sampling interface

Aplikace

| 2015 | Agilent Technologies

FTIR Spektroskopie

Instrumentace

FTIR Spektroskopie

Výrobce

Agilent Technologies

Zaměření

Materiálová analýza

Characterization of Surface Metal Contamination on Silicon Wafers Using Surface Metal Extraction Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometry (SME- ICP-MS)

Aplikace

| 2001 | Agilent Technologies

ICP/MS

Instrumentace

ICP/MS

Výrobce

Agilent Technologies

Zaměření

Polovodiče

Non-Destructive Analysis of Substrates and Contaminants by FTIR with Specular Reflectance Interface

Aplikace

| 2023 | Agilent Technologies

FTIR Spektroskopie

Instrumentace

FTIR Spektroskopie

Výrobce

Agilent Technologies

Zaměření

Materiálová analýza

AGILENT AEROSPACE ANALYZER

Ostatní

| 2016 | Agilent Technologies

FTIR Spektroskopie

Instrumentace

FTIR Spektroskopie

Výrobce

Agilent Technologies

Zaměření

Materiálová analýza

Analysis of wear metals and contaminants in engine oils using the 4100 MP-AES

Aplikace

| 2011 | Agilent Technologies

MP/ICP-AES

Instrumentace

MP/ICP-AES

Výrobce

Agilent Technologies

Zaměření

Průmysl a chemie

Agilent Atomic Spectroscopy Solutions for the Semiconductor Industry

Příručky

| 2020 | Agilent Technologies

ICP/MS, ICP/OES, AAS, ICP/MS/MS, MP/ICP-AES

Instrumentace

ICP/MS, ICP/OES, AAS, ICP/MS/MS, MP/ICP-AES

Výrobce

Agilent Technologies

Zaměření

Polovodiče

Molecular Spectroscopy Application eHandbook

Příručky

| 2017 | Agilent Technologies

NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie, FTIR Spektroskopie

Instrumentace

NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie, FTIR Spektroskopie

Výrobce

Agilent Technologies

Zaměření

Průmysl a chemie, Materiálová analýza

Sub-ppb detection limits for hydride gas contaminants using GC-ICP-QQQ

Aplikace

| 2015 | Agilent Technologies

GC, Speciační analýza, ICP/MS/MS

Instrumentace

GC, Speciační analýza, ICP/MS/MS

Výrobce

Agilent Technologies

Zaměření

Průmysl a chemie, Polovodiče

Best Practice for On-Filter Analysis of Microplastics Using the Agilent 8700 Laser Direct Infrared (LDIR) Chemical Imaging System

Aplikace

| 2023 | Agilent Technologies

FTIR Spektroskopie

Instrumentace

FTIR Spektroskopie

Výrobce

Agilent Technologies

Zaměření

Životní prostředí

Před
1
2
...
Další

Aplikace od Agilent Technologies | LabRulez ICPMS

Detection of trace contamination on metal surfaces using the handheld Agilent 4100 ExoScan FTIR

Measurement of composite surface contamination using the Agilent 4100 ExoScan FTIR with diffuse reflectance sampling interface

Characterization of Surface Metal Contamination on Silicon Wafers Using Surface Metal Extraction Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometry (SME- ICP-MS)

Non-Destructive Analysis of Substrates and Contaminants by FTIR with Specular Reflectance Interface

AGILENT AEROSPACE ANALYZER

Analysis of wear metals and contaminants in engine oils using the 4100 MP-AES

Agilent Atomic Spectroscopy Solutions for the Semiconductor Industry

Molecular Spectroscopy Application eHandbook

Sub-ppb detection limits for hydride gas contaminants using GC-ICP-QQQ

Best Practice for On-Filter Analysis of Microplastics Using the Agilent 8700 Laser Direct Infrared (LDIR) Chemical Imaging System

Mohlo by Vás zajímat

Virus napadající kokolitku – mořskou řasu, která ovlivňuje celosvětové klima

LABOREXPO & PROCESEXPO 2024 (doprovodný odborný program)

Podcast CHEmic #27 – Je třeba změnit výuku chemie i učebnice, myslí si Adam Jaroš z ÚOCHB