Rozcestník
Novinky
Novinky
Nejbližší akce
Akademie - již brzy
Knihovna
ICPMS
GCMS
LCMS
Webináře
Webináře
Produkty
Přístroje a služby
Bazar
Společnosti
Komerční
Nekomerční
Mediální
Kariéra
Nabídky práce
Další informace
Webináře
O nás
Kontaktujte nás
Podmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
Novinky
Knihovna
Webináře
Produkty
Společnosti
Kariéra
Novinky
Nejbližší akce
Akademie - již brzy
ICPMS
GCMS
LCMS
Webináře
Přístroje a služby
Bazar
Komerční
Nekomerční
Mediální
Nabídky práce
Databáze
ICPMS
GCMS
LCMS
Zaměření
Farmaceutická analýza
(2)
Klinická analýza
(2)
Materiálová analýza
(1)
Polovodiče
(12)
Instrumentace
AAS
(1)
ICP/MS
(26)
ICP/MS/MS
(13)
ICP/OES
(15)
Výrobce
Agilent Technologies
Elemental Scientific
(1)
Metrohm
(1)
Thermo Fisher Scientific
(1)
Agilent Technologies
Autor
Agilent Technologies
(41)
Thermo Fisher Scientific
(1)
Typ Publikace
Aplikace
(20)
Brožury a specifikace
(2)
Manuály
(2)
Ostatní
(3)
Rok vydání
Agilent 5800/5900 and 5100/5110 ICP-OES supplies - Quick Reference Guide
Příručky
| 2020 | Agilent Technologies
Spotřební materiál, ICP/OES
Instrumentace
Spotřební materiál, ICP/OES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Analysis of Metallic Impurities in Specialty Semiconductor Gases Using Gas Exchange Device (GED)-ICP-MS
Aplikace
| 2022 | Agilent Technologies
ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Analysis of flue gas desulfurization wastewaters with the Agilent 7700x/7800 ICP-MS
Aplikace
| 2015 | Agilent Technologies
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Životní prostředí
Agilent ICP Expert Software Status Bulletin
Manuály
| 2019 | Agilent Technologies
Software, ICP/OES
Instrumentace
Software, ICP/OES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Agilent ICP Expert Software, version 7.4.0 Status Bulletin
Manuály
| 2017 | Agilent Technologies
Software, ICP/OES
Instrumentace
Software, ICP/OES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Automated Surface Analysis of Metal Contaminants in Silicon Wafers by Online VPD-ICP-MS/MS
Aplikace
| 2023 | Agilent Technologies
ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Analysis of 50 nm Silica Nanoparticles in Semiconductor Process Chemicals by spICP-MS/MS
Aplikace
| 2023 | Agilent Technologies
ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Trace Metals in Water Samples Using the Agilent 5000 Series ICP-OES Systems
Příručky
| 2021 | Agilent Technologies
Spotřební materiál, ICP/OES
Instrumentace
Spotřební materiál, ICP/OES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Životní prostředí
Agilent ICP-MS Journal (May 2011 – Issue 46)
Ostatní
| 2011 | Agilent Technologies
GC, HPLC, ICP/MS, Speciační analýza
Instrumentace
GC, HPLC, ICP/MS, Speciační analýza
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Životní prostředí, Potraviny a zemědělství
Analysis of Ultratrace Impurities in High Silicon Matrix Samples by ICP-QQQ
Aplikace
| 2021 | Agilent Technologies
ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Před
1
2
3
...
Další
Mohlo by Vás zajímat
Představení nového ICP‑MS 7900: jedinečná technologie a výkon
Út, 28.5.2024
Altium International
Najděte svou vysněnou práci v analytické chemii s LabRulez KARIÉRA!
Ne, 26.5.2024
LabRulez
LABOREXPO & PROCESEXPO 2024 (doprovodný odborný program)
Čt, 16.5.2024
LabRulez
Další projekty
Sledujte nás
Další informace
Webináře
O nás
Kontaktujte nás
Podmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.