ICPMS
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
    1. Databáze

    1. Zaměření

    1. Instrumentace

    1. Výrobce

    1. Autor

    1. Typ Publikace

    1. Rok vydání

    The Measure of Purity - Water quality applications

    Příručky
    | 2019 | Agilent Technologies
    GC/MSD, GC/MS/MS, HeadSpace, Purge and Trap, GC/SQ, GC/QQQ, Spotřební materiál, HPLC, LC/TOF, LC/HRMS, LC/MS, LC/MS/MS, LC/QQQ, UV–VIS Spektrofotometrie, ICP/MS, ICP/OES, AAS, MP/ICP-AES
    Instrumentace
    GC/MSD, GC/MS/MS, HeadSpace, Purge and Trap, GC/SQ, GC/QQQ, Spotřební materiál, HPLC, LC/TOF, LC/HRMS, LC/MS, LC/MS/MS, LC/QQQ, UV–VIS Spektrofotometrie, ICP/MS, ICP/OES, AAS, MP/ICP-AES
    Výrobce
    Agilent Technologies, Elemental Scientific
    Zaměření
    Životní prostředí

    Wide Dynamic Range Electron Multiplier Detector

    Technické články
    | 2020 | Agilent Technologies
    ICP/MS
    Instrumentace
    ICP/MS
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření

    Simplifying Correction of Doubly Charged Ion Interferences with Agilent ICP-MS MassHunter

    Technické články
    | 2019 | Agilent Technologies
    Software, ICP/MS
    Instrumentace
    Software, ICP/MS
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření

    Nanoparticle Analysis by ICP-MS - Why sensitivity is key

    Technické články
    | 2023 | Agilent Technologies
    ICP/MS
    Instrumentace
    ICP/MS
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření

    Basic Performance of the Agilent 7700s ICP-MS for the Analysis of Semiconductor Samples

    Technické články
    | 2010 | Agilent Technologies
    ICP/MS
    Instrumentace
    ICP/MS
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Polovodiče

    Measuring Multiple Elements in Nanoparticles using spICP-MS

    Aplikace
    | 2021 | Agilent Technologies
    ICP/MS
    Instrumentace
    ICP/MS
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Životní prostředí, Potraviny a zemědělství, Materiálová analýza, Ostatní

    Direct Analysis of Metallic Impurities in SiC and GaN Wafers by LA-GED-MSAG-ICP-MS/MS

    Aplikace
    | 2023 | Agilent Technologies
    ICP/MS, ICP/MS/MS, Laserová ablace
    Instrumentace
    ICP/MS, ICP/MS/MS, Laserová ablace
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Polovodiče

    Single particle analysis of nanomaterials using the Agilent 7900 ICP-MS

    Aplikace
    | 2015 | Agilent Technologies
    ICP/MS
    Instrumentace
    ICP/MS
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Screening Liquids Under 100 mL with the Cobalt Insight Range by Agilent

    Aplikace
    | 2018 | Agilent Technologies
    RAMAN Spektrometrie
    Instrumentace
    RAMAN Spektrometrie
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Nebezpečné látky

    WCPS: Single-Cell and Bulk ICP-MS Investigation of Accumulation Patterns of Pt-based Drugs in Cisplatin–Sensitive and –Resistant Cell Models

    Postery
    | 2023 | Agilent Technologies
    ICP/MS, ICP/MS/MS
    Instrumentace
    ICP/MS, ICP/MS/MS
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Farmaceutická analýza, Klinická analýza
     

    Mohlo by Vás zajímat


    Nový systém čištění vody ELGA Purelab Flex

    St, 8.5.2024
    Česká voda – MEMSEP, a.s.

    FACT …to funguje (Agilent ICP-OES)

    Út, 7.5.2024
    Altium International

    LABOREXPO & PROCESEXPO 2024 (doprovodný odborný program)

    Čt, 16.5.2024
    LabRulez
    Další projekty
    Sledujte nás
    Další informace
    WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
    LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.