Rozcestník
Novinky
Novinky
Nejbližší akce
Akademie - již brzy
Knihovna
ICPMS
GCMS
LCMS
Webináře
Webináře
Produkty
Přístroje a služby
Bazar
Společnosti
Komerční
Nekomerční
Mediální
Kariéra
Nabídky práce
Další informace
Webináře
O nás
Kontaktujte nás
Podmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
Novinky
Knihovna
Webináře
Produkty
Společnosti
Kariéra
Novinky
Nejbližší akce
Akademie - již brzy
ICPMS
GCMS
LCMS
Webináře
Přístroje a služby
Bazar
Komerční
Nekomerční
Mediální
Nabídky práce
Databáze
ICPMS
GCMS
LCMS
Zaměření
Farmaceutická analýza
(3)
Forenzní analýza a toxikologie
(3)
Klinická analýza
(3)
Materiálová analýza
(8)
Instrumentace
AAS
(3)
FTIR Spektroskopie
(2)
ICP/MS
(28)
ICP/MS/MS
(12)
Výrobce
Agilent Technologies
CEM
(2)
Elemental Scientific
(2)
GERSTEL
(1)
Agilent Technologies
Autor
Agilent Technologies
(51)
Typ Publikace
Aplikace
(18)
Brožury a specifikace
(1)
Manuály
(1)
Ostatní
(10)
Rok vydání
Synchronous Vertical Dual View (SVDV) for High Productivity and Low Cost of Ownership
Technické články
| 2019 | Agilent Technologies
ICP/OES
Instrumentace
ICP/OES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Determination of Trace Metal Impurities in Semiconductor Grade Phosphoric Acid by High Sensitivity Reaction Cell ICP-MS
Aplikace
| 2003 | Agilent Technologies
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Analysis of Ultratrace Impurities in High Silicon Matrix Samples by ICP-QQQ
Aplikace
| 2021 | Agilent Technologies
ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Ultrapure Process Chemicals Analysis by ICP-QQQ with Hot Plasma Conditions
Aplikace
| 2021 | Agilent Technologies
ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Determination of 14 Impurity Elements in Lithium Carbonate Using ICP-OES
Aplikace
| 2020 | Agilent Technologies
ICP/OES
Instrumentace
ICP/OES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Životní prostředí
Determination of 14 Impurity Elements in Lithium Carbonate Using ICP-OES
Aplikace
| 2020 | Agilent Technologies
ICP/OES
Instrumentace
ICP/OES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Životní prostředí
WCPS: Determination of ultra-trace level impurities in high-purity metal samples by ICP-QQQ
Postery
| 2017 | Agilent Technologies
ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Determination of Elemental Impurities in Lithium Hydroxide Using ICP-OES
Aplikace
| 2023 | Agilent Technologies
ICP/OES
Instrumentace
ICP/OES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Průmysl a chemie
Dedicated axial or radial plasma view for superior speed and performance
Technické články
| 2012 | Agilent Technologies
ICP/OES
Instrumentace
ICP/OES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Synchronous Vertical Dual View (SVDV) for superior speed and performance
Technické články
| 2014 | Agilent Technologies
ICP/OES
Instrumentace
ICP/OES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Před
1
2
...
Další
Mohlo by Vás zajímat
Aktualizace služeb: Úspěšná akreditace a rozšíření nabídky
St, 24.4.2024
ALS Czech Republic
Pozvánka na LABOREXPO & PROCESEXPO 2024
Út, 23.4.2024
CHEMAGAZÍN
Aktuality v oblasti servisních služeb a zákaznických školení (M. Juříček) - NPI2023
Út, 23.4.2024
Altium International
Další projekty
Sledujte nás
Další informace
Webináře
O nás
Kontaktujte nás
Podmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.