Rozcestník
Novinky
Novinky
Nejbližší akce
Akademie - již brzy
Knihovna
ICPMS
GCMS
LCMS
Webináře
Webináře
Produkty
Přístroje a služby
Bazar
Společnosti
Komerční
Nekomerční
Mediální
Kariéra
Nabídky práce
Další informace
Webináře
O nás
Kontaktujte nás
Podmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
Novinky
Knihovna
Webináře
Produkty
Společnosti
Kariéra
Novinky
Nejbližší akce
Akademie - již brzy
ICPMS
GCMS
LCMS
Webináře
Přístroje a služby
Bazar
Komerční
Nekomerční
Mediální
Nabídky práce
Databáze
ICPMS
GCMS
LCMS
Zaměření
Farmaceutická analýza
(24)
Forenzní analýza a toxikologie
(4)
Klinická analýza
(15)
Materiálová analýza
(36)
Instrumentace
AAS
(35)
FTIR Spektroskopie
(29)
Fluorescenční spektroskopie
(3)
ICP/MS
(135)
Výrobce
Agilent Technologies
CEM
(5)
ELGA LabWater
(1)
Elemental Scientific
(2)
Agilent Technologies
Autor
Agilent Technologies
(299)
GERSTEL
(1)
Savillex
(1)
Thermo Fisher Scientific
(1)
Typ Publikace
Aplikace
(176)
Brožury a specifikace
(21)
Manuály
(11)
Ostatní
(28)
Rok vydání
Comparison of Portable FTIR Interface Technologies for the Analysis of Paints, Minerals & Concrete
Aplikace
| 2017 | Agilent Technologies
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Analysis of Steel and Its Alloys by ICP-OES Following the GB/T 20125- 2006 Standard
Aplikace
| 2022 | Agilent Technologies
ICP/OES
Instrumentace
ICP/OES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Determination of Trace Metal Impurities in Semiconductor Grade Phosphoric Acid by High Sensitivity Reaction Cell ICP-MS
Aplikace
| 2003 | Agilent Technologies
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Determination of trace elements in ultrapure semiconductor grade sulfuric acid using the Agilent 8900 ICP-QQQ in MS/MS mode
Aplikace
| 2018 | Agilent Technologies
ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Direct Analysis of Metallic Impurities in SiC and GaN Wafers by LA-GED-MSAG-ICP-MS/MS
Aplikace
| 2023 | Agilent Technologies
ICP/MS, ICP/MS/MS, Laserová ablace
Instrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS, Laserová ablace
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Delivering Clean Gases for Accurate Analyses
Brožury a specifikace
| 2018 | Agilent Technologies
Spotřební materiál
Instrumentace
Spotřební materiál
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Agilent ICP-MS Journal (April 2018. Issue 72)
Ostatní
| 2018 | Agilent Technologies
ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Potraviny a zemědělství, Polovodiče
Analysis of 50 nm Silica Nanoparticles in Semiconductor Process Chemicals by spICP-MS/MS
Aplikace
| 2023 | Agilent Technologies
ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Agilent ICP-MS Journal (November 2022, Issue 90)
Ostatní
| 2022 | Agilent Technologies
ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Průmysl a chemie, Farmaceutická analýza, Polovodiče
Wavelength Calibration, Overranges & Zero Order Troubleshooting Hints For The 4100 MP-AES
Prezentace
| 2012 | Agilent Technologies
MP/ICP-AES
Instrumentace
MP/ICP-AES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Před
1
2
3
...
Další
Mohlo by Vás zajímat
LABOREXPO & PROCESEXPO 2024 (doprovodný odborný program)
Čt, 16.5.2024
LabRulez
SHIMADZU: Pololetní události – Příležitosti k setkání s Vámi
St, 15.5.2024
SHIMADZU Handels GmbH - organizační složka
Najděte svou vysněnou práci v analytické chemii s LabRulez KARIÉRA!
Ne, 26.5.2024
LabRulez
Další projekty
Sledujte nás
Další informace
Webináře
O nás
Kontaktujte nás
Podmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.