ICPMS
Rozcestník
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
Language English

    1. Databáze

    1. Zaměření

    1. Instrumentace

    1. Výrobce

    1. Autor

    1. Typ Publikace

    1. Rok vydání

    APWC: Interference-free Measurement of Trace Mercury in Tungsten-rich Cosmetic Sample using ICP-QQQ

    Postery
    | 2017 | Agilent Technologies
    ICP/MS, ICP/MS/MS
    Instrumentace
    ICP/MS, ICP/MS/MS
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Ostatní

    Unmatched Removal of Spectral Interferences in ICP-MS Using the Agilent Octopole Reaction System with Helium Collision Mode

    Technické články
    | 2006 | Agilent Technologies
    ICP/MS
    Instrumentace
    ICP/MS
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření

    REACTION CELL FRONTIER: REMOVING OXIDE POLYATOMIC ION INTERFERENCES USING AN INNOVATIVE REACTION CELL ICP-MS

    Postery
    | N/A | Agilent Technologies
    ICP/MS, ICP/MS/MS
    Instrumentace
    ICP/MS, ICP/MS/MS
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření

    Direct measurement of trace rare earth elements (REEs) in high-purity REE oxide using the Agilent 8800 Triple Quadrupole ICP-MS with MS/MS mode

    Aplikace
    | 2012 | Agilent Technologies
    ICP/MS, ICP/MS/MS
    Instrumentace
    ICP/MS, ICP/MS/MS
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Materiálová analýza

    Removal of hydride ion interferences (MH+ ) on Rare Earth Elements using the Agilent 8800 Triple Quadrupole ICP-MS

    Aplikace
    | 2012 | Agilent Technologies
    ICP/MS, ICP/MS/MS
    Instrumentace
    ICP/MS, ICP/MS/MS
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Životní prostředí

    Kovy vzácných zemin (REE) jako analyt nebo interferent při analýze pomocí ICPMS SQ vs. ICPMS QQQ

    Prezentace
    | 2022 | Altium International (HPST)
    ICP/MS, ICP/MS/MS
    Instrumentace
    ICP/MS, ICP/MS/MS
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření

    Evaluation of Deuterium and Zeeman Background Correction with the Presence of Spectral Interferences Determinations of Arsenic in an Aluminium Matrix and Selenium in an Iron Matrix by GFAAS

    Technické články
    | 1995 | Agilent Technologies
    AAS
    Instrumentace
    AAS
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření

    APWC: Investigation of ICP-MS/MS using oxygen or hydrogen as a reaction gas for interference-free analysis of phosphorus in organic solvents

    Postery
    | 2017 | Agilent Technologies
    ICP/MS, ICP/MS/MS
    Instrumentace
    ICP/MS, ICP/MS/MS
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Průmysl a chemie

    Ultratrace Analysis of Solar (Photovoltaic) Grade Bulk Silicon by ICP-MS

    Aplikace
    | 2008 | Agilent Technologies
    ICP/MS
    Instrumentace
    ICP/MS
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Polovodiče

    WCPS: Ultratrace Analysis of Phosphorus, Boron and Other Impurities in Photovoltaic Silicon and Trichlorosilane by ICP-MS with High Energy Collision Cell

    Postery
    | 2011 | Agilent Technologies
    ICP/MS
    Instrumentace
    ICP/MS
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Polovodiče
     

    Mohlo by Vás zajímat

    ‌

    Nový systém čištění vody ELGA Purelab Flex

    St, 8.5.2024
    Česká voda – MEMSEP, a.s.
    ‌

    FACT …to funguje (Agilent ICP-OES)

    Út, 7.5.2024
    Altium International
    ‌

    LABOREXPO & PROCESEXPO 2024 (doprovodný odborný program)

    Čt, 16.5.2024
    LabRulez
    ‌
    Další projekty
    Sledujte nás
    Další informace
    WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
    LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.