Rozcestník
Novinky
Novinky
Nejbližší akce
Akademie - již brzy
Knihovna
ICPMS
GCMS
LCMS
Webináře
Webináře
Produkty
Přístroje a služby
Bazar
Společnosti
Komerční
Nekomerční
Mediální
Kariéra
Nabídky práce
Další informace
Webináře
O nás
Kontaktujte nás
Podmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
Novinky
Knihovna
Webináře
Produkty
Společnosti
Kariéra
Novinky
Nejbližší akce
Akademie - již brzy
ICPMS
GCMS
LCMS
Webináře
Přístroje a služby
Bazar
Komerční
Nekomerční
Mediální
Nabídky práce
Databáze
ICPMS
GCMS
LCMS
Zaměření
Farmaceutická analýza
(4)
Forenzní analýza a toxikologie
(3)
Klinická analýza
(3)
Materiálová analýza
(9)
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
(8)
ICP/MS
(12)
ICP/MS/MS
(6)
Laserová ablace
(1)
Výrobce
Agilent Technologies
Elemental Scientific
(1)
GERSTEL
(2)
Metrohm
(1)
Agilent Technologies
Autor
Agilent Technologies
(37)
GERSTEL
(1)
Typ Publikace
Aplikace
(15)
Brožury a specifikace
(10)
Ostatní
(8)
Postery
(3)
Rok vydání
Determination of Trace Impurities in Electronic Grade Arsine by GC-ICP-QQQ
Aplikace
| 2020 | Agilent Technologies
GC, ICP/MS, Speciační analýza, ICP/MS/MS
Instrumentace
GC, ICP/MS, Speciační analýza, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Measuring Inorganic Impurities in Semiconductor Manufacturing
Příručky
| 2022 | Agilent Technologies
GC, ICP/MS, Speciační analýza, ICP/MS/MS
Instrumentace
GC, ICP/MS, Speciační analýza, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Agilent Cary 610/620 FTIR microscopes and imaging systems
Brožury a specifikace
| 2014 | Agilent Technologies
FTIR Spektroskopie, Mikroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie, Mikroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Measuring the optical properties of photovoltaic cells using the Agilent Cary 5000 UV-Vis-NIR spectrophotometer and the External DRA-2500
Aplikace
| 2011 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza, Polovodiče
Coated Wafer Mapping Using UV-Vis Spectral Reflection and Transmission Measurements
Aplikace
| 2020 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza, Polovodiče
Measuring the Optical Properties of Photovoltaic Cells
Aplikace
| 2023 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Whole Air Canister Sampling and Preconcentration GC-MS Analysis for pptv Levels of Trimethylsilanol in Semiconductor Cleanroom Air
Aplikace
| 2013 | Restek
GC/MSD, Purge and Trap, GC/SQ
Instrumentace
GC/MSD, Purge and Trap, GC/SQ
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Životní prostředí
Wasson Chromatography Corner 26
Ostatní
| 2011 | Wasson-ECE Instrumentation
GC
Instrumentace
GC
Výrobce
Agilent Technologies, Wasson-ECE Instrumentation
Zaměření
Průmysl a chemie
Sub-ppb detection limits for hydride gas contaminants using GC-ICP-QQQ
Aplikace
| 2015 | Agilent Technologies
GC, Speciační analýza, ICP/MS/MS
Instrumentace
GC, Speciační analýza, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Průmysl a chemie, Polovodiče
Damage-free failure/defect analysis in electronics and semiconductor industries using micro-ATR FTIR imaging
Aplikace
| 2014 | Agilent Technologies
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza, Polovodiče
Před
1
2
...
Další
Mohlo by Vás zajímat
LABOREXPO & PROCESEXPO 2024 (doprovodný odborný program)
Čt, 16.5.2024
LabRulez
SHIMADZU: Pololetní události – Příležitosti k setkání s Vámi
St, 15.5.2024
SHIMADZU Handels GmbH - organizační složka
Odešli tři držitelé čestných doktorátů Univerzity Pardubice
Út, 28.5.2024
Univerzita Pardubice
Další projekty
Sledujte nás
Další informace
Webináře
O nás
Kontaktujte nás
Podmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.