Rozcestník
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
An Example of Observing Reduction Gear Using the Microfocus X-Ray CT System
Aplikace
| 2023 | Shimadzu
X-ray
Instrumentace
X-ray
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Introduction of Variable Angle Absolute Reflectance Attachment for the SolidSpec-3700
Technické články
| N/A | Shimadzu
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
X-ray photoelectron spectrometer - AXIS Nova
Brožury a specifikace
| 2018 | Shimadzu
X-ray
Instrumentace
X-ray
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Ostatní
Micro-Contaminant Analysis Using AIMsight Infrared Microscope
Aplikace
| 2023 | Shimadzu
FTIR Spektroskopie, Mikroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie, Mikroskopie
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Životní prostředí, Materiálová analýza
EDXRF Analysis of PM2.5 (Particle Matter)
Aplikace
| 2013 | Shimadzu
X-ray
Instrumentace
X-ray
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Infrared Microscope AIMsight
Brožury a specifikace
| 2023 | Shimadzu
FTIR Spektroskopie, Mikroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie, Mikroskopie
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Microfocus X-Ray Inspection System Xslicer SMX-6010
Brožury a specifikace
| 2023 | Shimadzu
X-ray
Instrumentace
X-ray
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Inspection of Defects in an Automotive Inverter Component with X-Ray Inspection System
Aplikace
| 2023 | Shimadzu
X-ray
Instrumentace
X-ray
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.