Rozcestník
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
Expanding the analytical range utilizing 1013 Ω amplifier technology: Measurement of 100 pg Nd samples
Aplikace
| 2018 | Thermo Fisher Scientific
Elementární analýza, GC/HRMS, GC/MSD
Instrumentace
Elementární analýza, GC/HRMS, GC/MSD
Výrobce
Thermo Fisher Scientific
Zaměření
Životní prostředí
High-Throughput Semiquantitative Screening of Ambient Air Samples by ORS-ICP-MS and Integrated Sample Introduction System (ISIS)
Aplikace
| 2007 | Agilent Technologies
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Životní prostředí
Validation of Analysis Method Using ICPMS-2030 Based on USP <233> ELEMENTAL IMPURITIES - PROCEDURES
Aplikace
| 2020 | Shimadzu
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Farmaceutická analýza
Multifaceted Evaluation of Plastics: Differences due to PC/ABS Resin Compounding Ratio
Aplikace
| 2023 | Shimadzu
Termální analýza, UV–VIS Spektrofotometrie, FTIR Spektroskopie, Mikroskopie, Mechanické zkoušky
Instrumentace
Termální analýza, UV–VIS Spektrofotometrie, FTIR Spektroskopie, Mikroskopie, Mechanické zkoušky
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Analysis of solar cell silicon
Aplikace
| 2019 | Thermo Fisher Scientific
Elementární analýza
Instrumentace
Elementární analýza
Výrobce
Thermo Fisher Scientific
Zaměření
Materiálová analýza
Using ICP-MS to Determine the Effect of Storage Temperature and Packaging on the Trace Metal Composition of Wine
Aplikace
| 2017 | Agilent Technologies
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Potraviny a zemědělství
Determination of Trace Impurities in High-Purity Copper by Sequential ICP-OES with Axial Viewing
Aplikace
| 2010 | Agilent Technologies
ICP-OES
Instrumentace
ICP-OES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Průmysl a chemie
Characterization of Surface Metal Contamination on Silicon Wafers Using Surface Metal Extraction Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometry (SME- ICP-MS)
Aplikace
| 2001 | Agilent Technologies
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Další projekty
Sledujte nás
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.