ICPMS
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.

Using ICP-MS/MS with M-Lens for the analysis of high silicon matrix samples

Postery
| 2020 | Agilent Technologies (ASMS)
ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče

Analysis of Ultratrace Impurities in High Purity Copper using the Agilent 8900 ICP-QQQ

Aplikace
| 2018 | Agilent Technologies
ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Průmysl a chemie, Polovodiče

Analysis of Trace Metal Impurities in High Purity Hydrochloric Acid Using ICP-QQQ

Aplikace
| 2017 | Agilent Technologies
ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče

Optimization of method conditions for high matrix samples using the Agilent 4210 MP‑AES

Technické články
| 2016 | Agilent Technologies
GD/MP/ICP-AES
Instrumentace
GD/MP/ICP-AES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření

Determination of High Concentration Sodium by Flame Atomic Absorption Spectrophotometry (FAAS) at Different Wavelengths

Aplikace
| 2016 | Shimadzu
AAS
Instrumentace
AAS
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Farmaceutická analýza

High throughput determination of inorganic arsenic in rice using hydride generation-ICP-MS

Aplikace
| 2015 | Agilent Technologies
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Potraviny a zemědělství

Determination of Trace Impurities in High-Purity Copper by Sequential ICP-OES with Axial Viewing

Aplikace
| 2010 | Agilent Technologies
ICP-OES
Instrumentace
ICP-OES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Průmysl a chemie

Rapid Analysis of High-Matrix Environmental Samples Using the Agilent 7500cx ICP-MS

Technické články
| 2007 | Agilent Technologies
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Životní prostředí

Characterization of Trace Impurities in Silicon Wafers by High Sensitivity Reaction Cell ICP-MS

Aplikace
| 2003 | Agilent Technologies
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče

High-Temperature Gigacycle Fatigue Test of Inconel 718 and Element Distribution Measurement on a Fracture Surface

Aplikace
| 2026 | Shimadzu
Mechanické zkoušky
Instrumentace
Mechanické zkoušky
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Další projekty
GCMS
LCMS
Sledujte nás
FacebookLinkedInYouTube
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.