Rozcestník
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
Analysis of steel and its alloys using the GB/T 20125-2006 standard and an Agilent 5100 ICP-OES in dual view mode
Aplikace
| 2015 | Agilent Technologies
ICP-OES
Instrumentace
ICP-OES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Průmysl a chemie, Materiálová analýza
Speciation of Bromine Compounds in Ozonated Drinking Water using Ion Chromatography and Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometry
Aplikace
| 2015 | Thermo Fisher Scientific
Iontová chromatografie, ICP/MS, Speciační analýza
Instrumentace
Iontová chromatografie, ICP/MS, Speciační analýza
Výrobce
Thermo Fisher Scientific
Zaměření
Životní prostředí
Onsite quantitative FTIR analysis of water in turbine oil
Aplikace
| 2013 | Agilent Technologies
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Průmysl a chemie
Speciation analysis of Cr (III) and Cr (VI) in drinking waters using anion exchange chromatography coupled to the Thermo Scientific iCAP Q ICP-MS
Aplikace
| 2012 | Thermo Fisher Scientific
Iontová chromatografie, ICP/MS
Instrumentace
Iontová chromatografie, ICP/MS
Výrobce
Thermo Fisher Scientific
Zaměření
Životní prostředí
Agilent 8800 Triple Quadrupole ICP-MS: Understanding oxygen reaction mode in ICP-MS/MS
Technické články
| 2012 | Agilent Technologies
ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Ultra-fast ICP-OES determinations of base metals in geochemical samples using next generation sample introduction technology
Aplikace
| 2012 | Agilent Technologies
ICP-OES
Instrumentace
ICP-OES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Životní prostředí
Fast Scanning Sector Field ICP-MS with Laser Ablation for the Multi-Element Analysis of Elephant Tusk
Aplikace
| 2003 | Thermo Fisher Scientific
Laserová ablace, ICP/MS
Instrumentace
Laserová ablace, ICP/MS
Výrobce
Thermo Fisher Scientific
Zaměření
Materiálová analýza
Determination of Trace Metal Impurities in Semiconductor Grade Phosphoric Acid by High Sensitivity Reaction Cell ICP-MS
Aplikace
| 2003 | Agilent Technologies
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Další projekty
Sledujte nás
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.