Rozcestník
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
Trace Elemental Analysis of Trichlorosilane by Agilent ICP-MS
Aplikace
| 2021 | Agilent Technologies
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
DST-1000 / DST-4000 Frequently Asked Questions
Ostatní
| 2016 | Savillex
Příprava vzorků
Instrumentace
Příprava vzorků
Výrobce
Savillex
Zaměření
Characterization of Trace Impurities in Silicon Wafers by High Sensitivity Reaction Cell ICP-MS
Aplikace
| 2003 | Agilent Technologies
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Watrex HPLC spotřební materiál
Ostatní
| 2024 | Watrex Praha
Spotřební materiál, LC kolony, HPLC
Instrumentace
Spotřební materiál, LC kolony, HPLC
Výrobce
Zaměření
Mikrovlnný rozkladný systém PreeKem TOPEX+
Brožury a specifikace
| 2020 | Altium International (HPST) (PreeKem)
Příprava vzorků, Mikrovlnný rozklad
Instrumentace
Příprava vzorků, Mikrovlnný rozklad
Výrobce
PreeKem
Zaměření
Analysis of 50 nm Silica Nanoparticles in Semiconductor Process Chemicals by spICP-MS/MS
Aplikace
| 2023 | Agilent Technologies
ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Direct Measurement of Metallic Impurities in 20% Ammonium Hydroxide by 7700s/7900 ICP-MS
Aplikace
| 2017 | Agilent Technologies
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Další projekty
Sledujte nás
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.