Rozcestník
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
Analysis of 50 nm Silica Nanoparticles in Semiconductor Process Chemicals by spICP-MS/MS
Aplikace
| 2023 | Agilent Technologies
ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Determination of Carbon and Nitrogen/Protein in Flour
Aplikace
| 2022 | LECO
Elementární analýza
Instrumentace
Elementární analýza
Výrobce
LECO
Zaměření
Potraviny a zemědělství
Fast & accurate DNA quantification with Lunatic
Technické články
| 2020 | Unchained Labs
Charakterizace částic, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
Charakterizace částic, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Unchained Labs
Zaměření
Proteomika
Simultaneous Determination of Heavy Metal and Mineral Contents in Fruit Juices using Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometry
Aplikace
| 2020 | Shimadzu
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Potraviny a zemědělství
EA-IRMS: 13C and Simultaneous 18O and 2H Isotope Analysis in Ethanol with Thermo Scientific Delta V Isotope Ratio Mass Spectrometers
Aplikace
| 2016 | Thermo Fisher Scientific
Elementární analýza, GC/HRMS, GC/MSD
Instrumentace
Elementární analýza, GC/HRMS, GC/MSD
Výrobce
Thermo Fisher Scientific
Zaměření
Potraviny a zemědělství
Thermo Scientific ConFlo IV Universal Interface
Brožury a specifikace
| 2011 | Thermo Fisher Scientific
Elementární analýza, GC/HRMS, GC/MSD
Instrumentace
Elementární analýza, GC/HRMS, GC/MSD
Výrobce
Thermo Fisher Scientific
Zaměření
Determination of metals in industrial wastewaters by microwave plasma- atomic emission spectrometry
Aplikace
| 2011 | Agilent Technologies
GD/MP/ICP-AES
Instrumentace
GD/MP/ICP-AES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Životní prostředí
Determination of Trace Impurities in High-Purity Copper by Sequential ICP-OES with Axial Viewing
Aplikace
| 2010 | Agilent Technologies
ICP-OES
Instrumentace
ICP-OES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Průmysl a chemie
Measuring Inorganic Impurities in Semiconductor Manufacturing
Příručky
| 2022 | Agilent Technologies
GC, ICP/MS, Speciační analýza, ICP/MS/MS
Instrumentace
GC, ICP/MS, Speciační analýza, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Analytical Solutions for Food Development
Brožury a specifikace
| 2025 | Shimadzu
X-ray, Termální analýza, Analýza velikosti částic, Charakterizace částic, UV–VIS Spektrofotometrie, GC, GC/MSD, LC/MS, HPLC, SFC, FTIR Spektroskopie, ICP/MS, GD/MP/ICP-AES, AAS, GC/SQ, SPME, LC/MS/MS, LC/QQQ, LC/SQ
Instrumentace
X-ray, Termální analýza, Analýza velikosti částic, Charakterizace částic, UV–VIS Spektrofotometrie, GC, GC/MSD, LC/MS, HPLC, SFC, FTIR Spektroskopie, ICP/MS, GD/MP/ICP-AES, AAS, GC/SQ, SPME, LC/MS/MS, LC/QQQ, LC/SQ
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Potraviny a zemědělství
Další projekty
Sledujte nás
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.