ICPMS
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.

A Faster, More Accurate Way of Characterizing Cube Beamsplitters

Aplikace
| 2022 | Agilent Technologies
UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza

Determination of Nitrogen in Soil and Plant Tissue (TruMac N)

Aplikace
| 2022 | LECO
Elementární analýza
Instrumentace
Elementární analýza
Výrobce
LECO
Zaměření
Potraviny a zemědělství

Determination of Nitrogen/Protein in Soybean Meal

Aplikace
| 2022 | LECO
Elementární analýza
Instrumentace
Elementární analýza
Výrobce
LECO
Zaměření
Potraviny a zemědělství

Failure analysis of packaging materials

Aplikace
| 2021 | Bruker Optics
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Bruker
Zaměření
Materiálová analýza

Determination of elemental impurities in graphite powder for lithium-ion battery anodes

Aplikace
| 2021 | Thermo Fisher Scientific
ICP-OES
Instrumentace
ICP-OES
Výrobce
Thermo Fisher Scientific
Zaměření
Materiálová analýza

Coated Wafer Mapping Using UV-Vis Spectral Reflection and Transmission Measurements

Aplikace
| 2020 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza, Polovodiče

High Sensitivity Determination of Lead in Soy sauce

Aplikace
| 2020 | Agilent Technologies
AAS
Instrumentace
AAS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Potraviny a zemědělství

Micro-Raman Spectroscopy in Thin Section Analysis of Rock Mineralogy

Aplikace
| 2019 | Metrohm
RAMAN Spektrometrie
Instrumentace
RAMAN Spektrometrie
Výrobce
Metrohm
Zaměření
Materiálová analýza

Investigation of Dichroism by Spectrophotometric Methods

Aplikace
| 2019 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza

Quantitative Analysis of Film Thicknesses of Multi-Layer Plating Used on Cards

Aplikace
| 2018 | Shimadzu
X-ray
Instrumentace
X-ray
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Další projekty
GCMS
LCMS
Sledujte nás
FacebookLinkedInYouTube
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.