Quick and Easy Characterization of Microplastics in Surface Water and Treated Effluent
Aplikace
| 2021 | Agilent Technologies
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Životní prostředí
Analysis of Microplastics by iSpect™ DIA-10 Dynamic Particle Image Analysis System and AIM-9000 Infrared Microscope
Aplikace
| 2019 | Shimadzu
FTIR Spektroskopie, Mikroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie, Mikroskopie
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Životní prostředí
Comprehensive Approach for Successful Microplastics Analysis
Aplikace
| 2024 | Shimadzu
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Životní prostředí
Nondestructive Elemental Analysis of Historical Materials (Old Metal Specimens) by X-Ray Fluorescence Spectrometer
Aplikace
| 2021 | Shimadzu
X-ray
Instrumentace
X-ray
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Quantitative Analysis of Elements in Small Quantity of Organic Matter by EDXRF - New Feature of Background FP Method
Aplikace
| 2013 | Shimadzu
X-ray
Instrumentace
X-ray
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Průmysl a chemie
Inspection of Defects in an Automotive Inverter Component with X-Ray Inspection System
Aplikace
| 2023 | Shimadzu
X-ray
Instrumentace
X-ray
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
X-ray Fluorescence Analysis of Lead in Tin Plating Using Theoretical Intensity of Scattered X-rays - Analysis of RoHS Regulated Elements by Energy Dispersive X-ray Fluorescence Spectrometer (EDX)
Aplikace
| N/A | Shimadzu
X-ray
Instrumentace
X-ray
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Influence of Voids on Fatigue Life of 3D Printed Titanium Alloy Specimens
Aplikace
| 2023 | Shimadzu
X-ray
Instrumentace
X-ray
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Quantitative Analysis of Lead in Bismuth Bronze - Matrix Elements/Profile Correction and Comparison with AA
Aplikace
| 2017 | Shimadzu
AAS, X-ray
Instrumentace
AAS, X-ray
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Direct determination of Al, B, Co, Cr, Mo, Ti, V and Zr in HF acid-digested nickel alloy using the Agilent 4210 Microwave Plasma-Atomic Emission Spectrometer