Characterization of Antibody-Drug Conjugate Critical Quality Attributes Using the Agilent Cary 3500 UV-Vis Multizone Temperature Capability
Aplikace
| 2022 | Agilent Technologies
UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Farmaceutická analýza
Ultra-fast ICP-OES determination of trace elements in water, as per US EPA 200.7
Aplikace
| 2017 | Agilent Technologies
ICP/OES
Instrumentace
ICP/OES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Životní prostředí
Characterization of Surface Metal Contamination on Silicon Wafers Using Surface Metal Extraction Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometry (SME- ICP-MS)
Aplikace
| 2001 | Agilent Technologies
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
RoHS/ELV Directives - Measurement of Heavy Metals Using ICP-MS
Aplikace
| 2006 | Agilent Technologies
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Životní prostředí
Determination of available nutrients in soil using the Agilent 4200 MP-AES
Aplikace
| 2015 | Agilent Technologies
MP/ICP-AES
Instrumentace
MP/ICP-AES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Životní prostředí
Spectral Transmission Requirements for Plastic Pharmaceutical Packaging in Accordance with USP <671>
Aplikace
| 2023 | Agilent Technologies
UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Farmaceutická analýza
Detection of Counterfeit Pharmaceuticals
Aplikace
| 2019 | Agilent Technologies
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Farmaceutická analýza
Direct Elemental Analysis of Gasoline by Agilent 7500ce ORS ICP-MS
Aplikace
| 2005 | Agilent Technologies
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Průmysl a chemie
RAPID, NON-DESTRUCTIVE MEASUREMENT OF THE Tg OF EPOXY FRP PARTS WITH A HANDHELD FTIR
Aplikace
| 2018 | Agilent Technologies
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Improvement of ICP-MS detectability of phosphorus and titanium in high purity silicon samples using the Agilent 8800 Triple Quadrupole ICP-MS