ICPMS
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.

Determining the effects of angle on the infra-red reflectance properties of thin films in architectural glass using the Agilent Cary 630 FTIR

Aplikace
| 2013 | Agilent Technologies
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza

Errors Associated With Thin Film Measurements Using XPS at a Single Angle

Aplikace
| 2008 | Thermo Fisher Scientific
X-ray
Instrumentace
X-ray
Výrobce
Thermo Fisher Scientific
Zaměření
Materiálová analýza

Analysis of Trace Elements in Water using Ultra Thin Film (1)

Aplikace
| N/A | Shimadzu
X-ray
Instrumentace
X-ray
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Životní prostředí

Analysis of Trace Elements in Water using Ultra Thin Film (2)

Aplikace
| N/A | Shimadzu
X-ray
Instrumentace
X-ray
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Životní prostředí

Thermo Scientific ARL EQUINOX 100 X-ray Diffractometers

Brožury a specifikace
| 2023 | Thermo Fisher Scientific
X-ray
Instrumentace
X-ray
Výrobce
Thermo Fisher Scientific
Zaměření
Farmaceutická analýza, Materiálová analýza, Průmysl a chemie

Thin Multilayer Analysis Using the Agilent 8700 LDIR Chemical Imaging System

Aplikace
| 2025 | Agilent Technologies
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza

K-Alpha: Compositional XPS Analysis of a Cu(In,Ga)Se2 Solar Cell

Aplikace
| 2011 | Thermo Fisher Scientific
X-ray
Instrumentace
X-ray
Výrobce
Thermo Fisher Scientific
Zaměření
Materiálová analýza

Optical Characteristics and Thickness of 2-layered Structures

Aplikace
| 2018 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza

Evaluation of the Cary Absolute Specular Reflectance accessory for the measurement of optical constants of thin films

Aplikace
| 2011 | Agilent Technologies
UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza

Investigation of Ni on Si thin film with ARL EQUINOX 100 X-ray Diffractometer

Aplikace
| 2023 | Thermo Fisher Scientific
X-ray, XRD
Instrumentace
X-ray, XRD
Výrobce
Thermo Fisher Scientific
Zaměření
Materiálová analýza
Další projekty
GCMS
LCMS
Sledujte nás
FacebookLinkedInYouTube
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.