ICPMS
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.

Simultaneous Analysis of Trace and Major Elements in Iron and Steel by ICPE-9820

Aplikace
| 2014 | Shimadzu
GD/MP/ICP-AES
Instrumentace
GD/MP/ICP-AES
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza

Single particle analysis of nanomaterials with agilent ICP-MS (RAFA)

Postery
| 2013 | Agilent Technologies (RAFA)
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Potraviny a zemědělství

ICP Expert II Software Installation Instructions Windows XP 32-bit Operating System

Manuály
| 2013 | Agilent Technologies
Software, ICP-OES
Instrumentace
Software, ICP-OES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření

Fast Filter Accessory Instructions

Manuály
| 2012 | Agilent Technologies
Fluorescenční spektroskopie
Instrumentace
Fluorescenční spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření

WCPS: Dramatically improved sample throughput using a new sample introduction technique with ICP-OES

Postery
| 2011 | Agilent Technologies
ICP-OES
Instrumentace
ICP-OES
Výrobce
Agilent Technologies, CEM
Zaměření

Advances in High Precision Isotope Ratio Measurements of Calcium Using TI-MS

Aplikace
| 2011 | Thermo Fisher Scientific
Elementární analýza, GC/HRMS, GC/MSD
Instrumentace
Elementární analýza, GC/HRMS, GC/MSD
Výrobce
Thermo Fisher Scientific
Zaměření
Životní prostředí

Analysis of Used or Waste Oils by Method 3040 of SW–846 by ICP-OES

Aplikace
| 2010 | Agilent Technologies
ICP-OES
Instrumentace
ICP-OES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Průmysl a chemie

Determination of Tin by Hydride Generation AA

Aplikace
| 2010 | Agilent Technologies
AAS
Instrumentace
AAS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření

The DXR Raman Microscope for High-Performance Raman Microscopy

Aplikace
| 2008 | Thermo Fisher Scientific
RAMAN Spektrometrie, Mikroskopie, Software
Instrumentace
RAMAN Spektrometrie, Mikroskopie, Software
Výrobce
Thermo Fisher Scientific
Zaměření
Materiálová analýza

The Merits of Quantitative Element Mapping at Low Acceleration Voltage and High Magnification

Aplikace
| 2008 | Thermo Fisher Scientific
X-ray
Instrumentace
X-ray
Výrobce
Thermo Fisher Scientific
Zaměření
Materiálová analýza
Další projekty
GCMS
LCMS
Sledujte nás
FacebookLinkedInYouTube
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.