ICPMS
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.

True simultaneous ICP-OES for unmatched speed and performance

Technické články
| 2012 | Agilent Technologies
ICP-OES
Instrumentace
ICP-OES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření

TANGO. ANALYSIS TO GO. The next generation FT-NIR spectrometer.

Brožury a specifikace
| 2017 | Bruker Optics
FTIR Spektroskopie, NIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie, NIR Spektroskopie
Výrobce
Bruker
Zaměření

WCPS: New Reaction Cell ICP-MS with Improved Ion Optics Arrangement and Vacuum System

Postery
| 2012 | Agilent Technologies
ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření

The Measurement of High Optical Densities in the Near-Infrared

Aplikace
| 2022 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie
Instrumentace
NIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza

DropView solutions for treatment of electrochemical and optical results

Aplikace
| 2021 | Metrohm
UV–VIS Spektrofotometrie, Elektrochemie
Instrumentace
UV–VIS Spektrofotometrie, Elektrochemie
Výrobce
Metrohm
Zaměření

Spectrophotometric Spatial Profiling of Coated Optical Wafers

Aplikace
| 2020 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza

Shimadzu PDA-8000 Optical Emission Spectrometer

Brožury a specifikace
| 2019 | Shimadzu
Optická emisní spektroskopie (OES)
Instrumentace
Optická emisní spektroskopie (OES)
Výrobce
Shimadzu
Zaměření

Proper Care and Handling of Fiber-optic Cables

Technické články
| 2019 | Metrohm
RAMAN Spektrometrie
Instrumentace
RAMAN Spektrometrie
Výrobce
Metrohm
Zaměření

Evaluating Optical Properties of Diamonds and Natural Gemstones

Aplikace
| 2018 | Shimadzu
UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza

Optical Characteristics and Thickness of 2-layered Structures

Aplikace
| 2018 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Další projekty
GCMS
LCMS
Sledujte nás
FacebookLinkedInYouTube
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.