ICPMS
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.

Carbon and Sulfur Determination in Low Carbon Ferroalloys

Aplikace
| 2013 | LECO
Elementární analýza, Termální analýza
Instrumentace
Elementární analýza, Termální analýza
Výrobce
LECO
Zaměření
Materiálová analýza

QA/QC of coffee using the Agilent Cary 630 ATR-FTIR analyzer

Aplikace
| 2012 | Agilent Technologies
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Potraviny a zemědělství

Analysis of Chinese herbal medicines by microwave plasma-atomic emission spectrometry (MP-AES)

Aplikace
| 2012 | Agilent Technologies
GD/MP/ICP-AES
Instrumentace
GD/MP/ICP-AES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Potraviny a zemědělství

Exploration and Mining of Rare Earth Elements (REE) Using Tube-Based Thermo Scientific Portable XRF Analyzers

Aplikace
| 2012 | Thermo Fisher Scientific
X-ray
Instrumentace
X-ray
Výrobce
Thermo Fisher Scientific
Zaměření
Materiálová analýza, Průmysl a chemie

Agilent MS40+

Brožury a specifikace
| 2011 | Agilent Technologies
GC/MSD, LC/MS, ICP/MS
Instrumentace
GC/MSD, LC/MS, ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření

WCPS: ADVANCING PEFORMANCE OF AN AXIALLY VIEWED INDUCTIVELY COUPLED PLASMA OPTICAL EMISSION SPECTROMETER FOR SAMPLES HIGH SOLIDS BY INNOVATIVE TORCH DESIGN

Postery
| 2011 | Agilent Technologies
ICP-OES
Instrumentace
ICP-OES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření

Low reflectance measurements using the ‘VW’ technique

Technické články
| 2011 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření

Quality Control of Grade Specific Materials

Technické články
| 2009 | LECO
GD/MP/ICP-AES, Elementární analýza
Instrumentace
GD/MP/ICP-AES, Elementární analýza
Výrobce
LECO
Zaměření
Materiálová analýza, Průmysl a chemie

Analysis of As, P dopant distribution of NMOS transistor by FESTEM & EDS

Aplikace
| 2009 | Thermo Fisher Scientific
X-ray
Instrumentace
X-ray
Výrobce
Thermo Fisher Scientific
Zaměření
Materiálová analýza, Průmysl a chemie

Verifying the Performance of the Fiber Optic Reflectance Probe on the Thermo Scientific Antaris FT-NIR Analyzer

Technické články
| 2008 | Thermo Fisher Scientific
NIR Spektroskopie
Instrumentace
NIR Spektroskopie
Výrobce
Thermo Fisher Scientific
Zaměření
Ostatní
Další projekty
GCMS
LCMS
Sledujte nás
FacebookLinkedInYouTube
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.