ICPMS
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.

Online analysis of copper, tin, and zinc in white bronze baths by XRF

Aplikace
| 2025 | Metrohm
X-ray
Instrumentace
X-ray
Výrobce
Metrohm
Zaměření
Průmysl a chemie

Analysis of plastics and polymers for RoHS/WEE compliance by EDXRF

Aplikace
| 2024 | Thermo Fisher Scientific
X-ray
Instrumentace
X-ray
Výrobce
Thermo Fisher Scientific
Zaměření
Materiálová analýza

Rapid Sample Assessment and Simplified Method Development with IntelliQuant

Technické články
| 2017 | Agilent Technologies
ICP-OES
Instrumentace
ICP-OES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření

Rapid identification of o-rings, seals and gaskets using the handheld Agilent 4100 ExoScan FTIR

Aplikace
| 2015 | Agilent Technologies
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza

Water-Selective Moisture Analyzer Brabender: Aquatrac-V

Brožury a specifikace
| 2024 | Anton Paar
Laboratorní přístroje
Instrumentace
Laboratorní přístroje
Výrobce
Anton Paar
Zaměření
Materiálová analýza, Průmysl a chemie

Highly sensitive analysis of distillate products per ASTM Method D8110 using single quadrupole ICP-MS

Postery
| 2024 | Thermo Fisher Scientific
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Thermo Fisher Scientific
Zaměření
Průmysl a chemie

Revealing battery secrets with ECRaman solutions

Aplikace
| 2023 | Metrohm
RAMAN Spektrometrie
Instrumentace
RAMAN Spektrometrie
Výrobce
Metrohm
Zaměření
Průmysl a chemie

Nondestructive Elemental Analysis of Historical Materials (Old Metal Specimens) by X-Ray Fluorescence Spectrometer

Aplikace
| 2021 | Shimadzu
X-ray
Instrumentace
X-ray
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza

Analysis of a CMOS Chip Circuit Board using the stand-alone FTIR Microscope LUMOS II

Aplikace
| 2021 | Bruker Optics
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Bruker
Zaměření
Polovodiče

Spectrophotometric Spatial Profiling of Coated Optical Wafers

Aplikace
| 2020 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Další projekty
GCMS
LCMS
Sledujte nás
FacebookLinkedInYouTube
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.