ICPMS
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.

MATRIX-MG Series Automated High-Performance Gas Analyzers

Brožury a specifikace
| 2017 | Bruker Optics
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Bruker
Zaměření
Průmysl a chemie

K-Alpha: A New Concept in XPS

Aplikace
| 2008 | Thermo Fisher Scientific
X-ray
Instrumentace
X-ray
Výrobce
Thermo Fisher Scientific
Zaměření
Materiálová analýza

FTIR Talk Letter (vol. 42)

Ostatní
| 2024 | Shimadzu
FTIR Spektroskopie, RAMAN Spektrometrie, Mikroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie, RAMAN Spektrometrie, Mikroskopie
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Průmysl a chemie

Agilent ICP-MS Journal (March 2006 – Issue 26)

Ostatní
| 2006 | Agilent Technologies
ICP/MS, Speciační analýza
Instrumentace
ICP/MS, Speciační analýza
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Průmysl a chemie

AAV Aggregate Quantitation and Identification with the Aura System

Aplikace
| 2025 | Waters
Charakterizace částic, Mikroskopie
Instrumentace
Charakterizace částic, Mikroskopie
Výrobce
Waters
Zaměření
Farmaceutická analýza

Characterization of Biomolecules using High-Performance UV-Vis Spectrophotometry

Aplikace
| 2024 | Agilent Technologies
UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Farmaceutická analýza, Klinická analýza

Fast ICP-MS method for determination of heavy elements in different types of food matrices

Postery
| 2019 | Shimadzu (ASMS)
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Potraviny a zemědělství

X-ray Microanalysis Family

Brožury a specifikace
| 2019 | Thermo Fisher Scientific
X-ray
Instrumentace
X-ray
Výrobce
Thermo Fisher Scientific
Zaměření

NEAFS: Portable and Handheld FTIR

Prezentace
| 2017 | Agilent Technologies
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Forenzní analýza a toxikologie

Characterization of Surface Metal Contamination on Silicon Wafers Using Surface Metal Extraction Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometry (SME- ICP-MS)

Aplikace
| 2001 | Agilent Technologies
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Další projekty
GCMS
LCMS
Sledujte nás
FacebookLinkedInYouTube
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.