Rozcestník
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
HPST ChromAtoMol #1 - časopis nejen pro analytické laboratoře
Ostatní
| 2014 | Altium International (HPST)
GC/MSD, GC/MS/MS, GC/QQQ, Spotřební materiál, Iontová mobilita, HPLC, LC/TOF, LC/HRMS, LC/MS, LC/MS/MS, LC kolony, SFC, UV–VIS Spektrofotometrie, ICP/MS, ICP-OES, ICP/MS/MS, GD/MP/ICP-AES
Instrumentace
GC/MSD, GC/MS/MS, GC/QQQ, Spotřební materiál, Iontová mobilita, HPLC, LC/TOF, LC/HRMS, LC/MS, LC/MS/MS, LC kolony, SFC, UV–VIS Spektrofotometrie, ICP/MS, ICP-OES, ICP/MS/MS, GD/MP/ICP-AES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Životní prostředí
Fast, Accurate Analysis of 28 Elements in Water using ISO Method 17294-2 for ICP-MS
Aplikace
| 2022 | Agilent Technologies
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Životní prostředí
Analysis of Rare Earth Elements in Base Metal Ores by ICP-OES
Aplikace
| 2022 | Agilent Technologies
ICP-OES
Instrumentace
ICP-OES
Výrobce
Agilent Technologies, CEM
Zaměření
Životní prostředí
Rapid Multi-Elemental Analysis of Fertilizers using the Agilent 5110 VDV ICP-OES
Aplikace
| 2019 | Agilent Technologies
ICP-OES
Instrumentace
ICP-OES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Životní prostředí
Benefits of the Agilent 8900 ICP-QQQ with MS/MS operation for routine food analysis
Technické články
| 2017 | Agilent Technologies
ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Potraviny a zemědělství
Multi-Element Analysis of Petroleum Crude Oils using an Agilent 7900 ICP-MS
Aplikace
| 2017 | Agilent Technologies
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Průmysl a chemie
Determination of metals in soil by microwave plasma - atomic emission spectrometry (MP-AES) using DTPA extraction
Aplikace
| 2013 | Agilent Technologies
GD/MP/ICP-AES
Instrumentace
GD/MP/ICP-AES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Životní prostředí
Determination of Trace Metal Impurities in Semiconductor Grade Phosphoric Acid by High Sensitivity Reaction Cell ICP-MS
Aplikace
| 2003 | Agilent Technologies
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Další projekty
Sledujte nás
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.