ICPMS
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.

Torsional and Pinching Dynamic Characteristics Testing of Rubber Vibration Isolators [JIS K6385]

Aplikace
| 2025 | Shimadzu
Mechanické zkoušky
Instrumentace
Mechanické zkoušky
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza

Characterization of Biodegradable and Oxo-Biodegradable Plastic Bags

Aplikace
| 2020 | Shimadzu
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza

Toward Recycling of Marine Debris - Analysis of Microplastics Using FTIR and EDX -

Aplikace
| 2019 | Shimadzu
FTIR Spektroskopie, X-ray
Instrumentace
FTIR Spektroskopie, X-ray
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Životní prostředí

Routine determination of ultratrace elements in semiconductor grade nitric acid by the Thermo Scientific iCAP RQ ICP-MS

Aplikace
| 2017 | Thermo Fisher Scientific
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Thermo Fisher Scientific
Zaměření
Polovodiče

Cary 4000/5000/6000i UV-Vis spectrophotometer – Site Preparation Checklist

Manuály
| 2016 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření

Detection of trace contamination on metal surfaces using the handheld Agilent 4100 ExoScan FTIR

Aplikace
| 2015 | Agilent Technologies
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza

Safety - Cylinder pressure-relief devices

Technické články
| 2013 | Air Products
Spotřební materiál
Instrumentace
Spotřební materiál
Výrobce
Air Products
Zaměření

4210 MP–AES - Site Preparation Checklist

Manuály
| 2011 | Agilent Technologies
GD/MP/ICP-AES
Instrumentace
GD/MP/ICP-AES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření

Determination of Lead in Unleaded Gasoline on the Liberty Series II ICP-OES with the Axially-Viewed Plasma

Aplikace
| 2010 | Agilent Technologies
ICP-OES
Instrumentace
ICP-OES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Průmysl a chemie

Characterization of Trace Impurities in Silicon Wafers by High Sensitivity Reaction Cell ICP-MS

Aplikace
| 2003 | Agilent Technologies
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Další projekty
GCMS
LCMS
Sledujte nás
FacebookLinkedInYouTube
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.