ICPMS
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.

Application of the agilent 4500 series ftir to the stable isotope technique for assessing intake of human milk in breastfed infants

Ostatní
| 2014 | Agilent Technologies
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Potraviny a zemědělství

Screening Analysis with EDX-7000 Navi Software

Aplikace
| 2014 | Shimadzu
Software, X-ray
Instrumentace
Software, X-ray
Výrobce
Shimadzu
Zaměření

Single particle analysis of nanomaterials with agilent ICP-MS (RAFA)

Postery
| 2013 | Agilent Technologies (RAFA)
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Potraviny a zemědělství

Bulk Analysis of Hot Dip Galvanizing Bath Using the GDS500A

Technické články
| 2012 | LECO
GD/MP/ICP-AES, Elementární analýza
Instrumentace
GD/MP/ICP-AES, Elementární analýza
Výrobce
LECO
Zaměření
Materiálová analýza, Průmysl a chemie

Characterizing sub-nanometer narrow bandpass filters using a Cary 400/500

Aplikace
| 2011 | Agilent Technologies
UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza

The determination of thin film thickness using reflectance spectroscopy

Aplikace
| 2011 | Agilent Technologies
UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza

Analysis of Stainless Steels (Corrosion and Heat-Resistant Steels)

Technické články
| 2007 | LECO
GD/MP/ICP-AES, Elementární analýza
Instrumentace
GD/MP/ICP-AES, Elementární analýza
Výrobce
LECO
Zaměření
Materiálová analýza, Průmysl a chemie

Improvements in TIMS High Precision Isotope Ratio Measurements for Small Sample Sizes

Aplikace
| 2007 | Thermo Fisher Scientific
Elementární analýza, GC/HRMS, GC/MSD
Instrumentace
Elementární analýza, GC/HRMS, GC/MSD
Výrobce
Thermo Fisher Scientific
Zaměření
Průmysl a chemie

Characterization of Trace Impurities in Silicon Wafers by High Sensitivity Reaction Cell ICP-MS

Aplikace
| 2003 | Agilent Technologies
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče

Element-specific examination of volatile halogenated organics in wastewater extracts using GC-ICP-MS

Postery
| N/A | Agilent Technologies
GC, ICP/MS, Speciační analýza
Instrumentace
GC, ICP/MS, Speciační analýza
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Životní prostředí
Další projekty
GCMS
LCMS
Sledujte nás
FacebookLinkedInYouTube
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.