Rozcestník
Novinky
Novinky
Nejbližší akce
Akademie - již brzy
Knihovna
ICPMS
GCMS
LCMS
Webináře
Webináře
Produkty
Přístroje a služby
Bazar
Společnosti
Komerční
Nekomerční
Mediální
Kariéra
Nabídky práce
Další informace
Webináře
O nás
Kontaktujte nás
Podmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
Novinky
Knihovna
Webináře
Produkty
Společnosti
Kariéra
Novinky
Nejbližší akce
Akademie - již brzy
ICPMS
GCMS
LCMS
Webináře
Přístroje a služby
Bazar
Komerční
Nekomerční
Mediální
Nabídky práce
Databáze
ICPMS
GCMS
LCMS
Zaměření
Farmaceutická analýza
(259)
Forenzní analýza a toxikologie
(50)
Klinická analýza
(94)
Materiálová analýza
(615)
Instrumentace
AAS
(125)
Analýza velikosti částic
(53)
Charakterizace částic
(69)
Dynamická mechanická analýza (DMA)
(4)
Výrobce
ANALYTIKA
(1)
Agilent Technologies
(1048)
Anton Paar
(81)
Bruker
(68)
Autor
ANALYTIKA
(1)
Agilent Technologies
(1036)
Anton Paar
(81)
Bruker Optics
(65)
Typ Publikace
Aplikace
(1570)
Brožury a specifikace
(425)
Manuály
(90)
Ostatní
(282)
Rok vydání
Application of the agilent 4500 series ftir to the stable isotope technique for assessing intake of human milk in breastfed infants
Ostatní
| 2014 | Agilent Technologies
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Potraviny a zemědělství
Screening Analysis with EDX-7000 Navi Software
Aplikace
| 2014 | Shimadzu
Software, X-ray
Instrumentace
Software, X-ray
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Single particle analysis of nanomaterials with agilent ICP-MS (RAFA)
Postery
| 2013 | Agilent Technologies (RAFA)
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Potraviny a zemědělství
Bulk Analysis of Hot Dip Galvanizing Bath Using the GDS500A
Technické články
| 2012 | LECO
GD/MP/ICP-AES, Elementární analýza
Instrumentace
GD/MP/ICP-AES, Elementární analýza
Výrobce
LECO
Zaměření
Materiálová analýza, Průmysl a chemie
Characterizing sub-nanometer narrow bandpass filters using a Cary 400/500
Aplikace
| 2011 | Agilent Technologies
UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
The determination of thin film thickness using reflectance spectroscopy
Aplikace
| 2011 | Agilent Technologies
UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Analysis of Stainless Steels (Corrosion and Heat-Resistant Steels)
Technické články
| 2007 | LECO
GD/MP/ICP-AES, Elementární analýza
Instrumentace
GD/MP/ICP-AES, Elementární analýza
Výrobce
LECO
Zaměření
Materiálová analýza, Průmysl a chemie
Improvements in TIMS High Precision Isotope Ratio Measurements for Small Sample Sizes
Aplikace
| 2007 | Thermo Fisher Scientific
Elementární analýza, GC/HRMS, GC/MSD
Instrumentace
Elementární analýza, GC/HRMS, GC/MSD
Výrobce
Thermo Fisher Scientific
Zaměření
Průmysl a chemie
Characterization of Trace Impurities in Silicon Wafers by High Sensitivity Reaction Cell ICP-MS
Aplikace
| 2003 | Agilent Technologies
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Element-specific examination of volatile halogenated organics in wastewater extracts using GC-ICP-MS
Postery
| N/A | Agilent Technologies
GC, ICP/MS, Speciační analýza
Instrumentace
GC, ICP/MS, Speciační analýza
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Životní prostředí
Před
1
...
80
81
82
...
Další
Další projekty
Sledujte nás
Další informace
Webináře
O nás
Kontaktujte nás
Podmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.