Confirmation of Raw Material Quality - Dealing with "Silent Change" Counterfeiting
Aplikace
| 2015 | Shimadzu
FTIR Spektroskopie, X-ray
Instrumentace
FTIR Spektroskopie, X-ray
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Materiálová analýza
Measurement of composite surface contamination using the Agilent 4100 ExoScan FTIR with diffuse reflectance sampling interface
Aplikace
| 2015 | Agilent Technologies
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Determination of trace amounts of Mercury (II) by Total Fluorescence Quenching using 1,10-phenanthroline and eosin
Aplikace
| 2012 | Agilent Technologies
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
NIR Spektroskopie, UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Životní prostředí
WCPS: Ultratrace Analysis of Phosphorus, Boron and Other Impurities in Photovoltaic Silicon and Trichlorosilane by ICP-MS with High Energy Collision Cell
Postery
| 2011 | Agilent Technologies
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Mercury Determination in Sorbent Trap Material
Aplikace
| 2010 | LECO
Elementární analýza
Instrumentace
Elementární analýza
Výrobce
LECO
Zaměření
Průmysl a chemie, Nebezpečné látky
IMSC: A New Design of Ion Lens and Collision/Reaction Cell for ICP-MS
Postery
| 2009 | Agilent Technologies
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
High Precision Boron Isotope Analyses
Aplikace
| 2009 | Thermo Fisher Scientific
Elementární analýza, GC/HRMS, GC/MSD
Instrumentace
Elementární analýza, GC/HRMS, GC/MSD
Výrobce
Thermo Fisher Scientific
Zaměření
Životní prostředí
Analysis of Sodium & Potassium in Fatty Acid Methyl Esters (FAME)
Aplikace
| N/A | Shimadzu
UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Průmysl a chemie
Absolute Reflectance Measurement of Anti-Reflective Film for Solar Cells Using the SolidSpec-3700