P-test verification of Equate cold tablets and comparison with Alka-Seltzer
Aplikace
| N/A | Metrohm
RAMAN Spektrometrie
Instrumentace
RAMAN Spektrometrie
Výrobce
Metrohm
Zaměření
Farmaceutická analýza
Content Analysis of Toxic Elements in Soil by ICPE-9800 Series
Aplikace
| 2014 | Shimadzu
MP/ICP-AES
Instrumentace
MP/ICP-AES
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Životní prostředí
The accurate measurement of selenium in twelve diverse reference materials using on-line isotope dilution with the 8800 Triple Quadrupole ICP-MS in MS/MS mode
Aplikace
| 2012 | Agilent Technologies
ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Životní prostředí
Agilent Beam Enhancer Technology for High-Speed Transmission Raman Spectroscopy
Aplikace
| 2018 | Agilent Technologies
RAMAN Spektrometrie
Instrumentace
RAMAN Spektrometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Farmaceutická analýza
Benefi ts of the Agilent Cary 8454 UV-Vis Diode Array for Multi-Wavelength Kinetics
Aplikace
| 2014 | Agilent Technologies
UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Průmysl a chemie
Measurement of composite surface contamination using the Agilent 4100 ExoScan FTIR with diffuse reflectance sampling interface
Aplikace
| 2015 | Agilent Technologies
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Measuring the cover and shade protection factors of synthetic shadecloth
Aplikace
| 2011 | Agilent Technologies
UV–VIS Spektrofotometrie
Instrumentace
UV–VIS Spektrofotometrie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Materiálová analýza
Quantification of five effective components in pesticides by visible near-infrared spectroscopy
Aplikace
| 2017 | Metrohm
NIR Spektroskopie
Instrumentace
NIR Spektroskopie
Výrobce
Metrohm
Zaměření
Průmysl a chemie
Direct Measurement of Lithium (Li) in Seawater Using the Flame Micro Sampling Method
Aplikace
| 2018 | Shimadzu
AAS
Instrumentace
AAS
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Životní prostředí
Analysis of 50 nm Silica Nanoparticles in Semiconductor Process Chemicals by spICP-MS/MS