A Study of Toxicity Evaluation Using the iMScope TRIO - Analysis of Localization of Amiodarone in Rat Lungs
Aplikace
| 2017 | Shimadzu
MS Imaging, Mikroskopie
Instrumentace
MS Imaging, Mikroskopie
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Klinická analýza
Microwave digestion for the determination of metal elements in hair
Aplikace
| N/A | PreeKem
Příprava vzorků, Mikrovlnný rozklad
Instrumentace
Příprava vzorků, Mikrovlnný rozklad
Výrobce
PreeKem
Zaměření
Forenzní analýza a toxikologie, Klinická analýza
Application of Microwave Digestion in the Determination of Trace Elements in Graphite Anode Materials
Aplikace
| N/A | PreeKem
Příprava vzorků, Mikrovlnný rozklad
Instrumentace
Příprava vzorků, Mikrovlnný rozklad
Výrobce
PreeKem
Zaměření
Materiálová analýza
High throughput determination of inorganic arsenic in rice using hydride generation-ICP-MS
Aplikace
| 2015 | Agilent Technologies
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Potraviny a zemědělství
Minimizing photobleaching of Blue Fluorescent Protein (BFP) using the Agilent Cary Eclipse fluorescence spectrophotometer
Aplikace
| 2011 | Agilent Technologies
Fluorescenční spektroskopie
Instrumentace
Fluorescenční spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Klinická analýza
Determination of Magnesium, Calcium and Potassium in Brines by Flame AAS using the SIPS-10 Accessory for Automated Calibration and On-Line Sample Dilution
Aplikace
| 2010 | Agilent Technologies
AAS
Instrumentace
AAS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Průmysl a chemie
Routine determination of trace rare earth elements in high purity Nd2 O3 using the Agilent 8800 ICP-QQQ
Aplikace
| 2015 | Agilent Technologies
ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Životní prostředí
Investigations into the use of helium collision mode and aerosol dilution for ultra-trace analysis of metals in mineral reference materials
Aplikace
| 2013 | Agilent Technologies
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Životní prostředí
Damage-free failure/defect analysis in electronics and semiconductor industries using micro-ATR FTIR imaging