Characterization of Surface Metal Contamination on Silicon Wafers Using Surface Metal Extraction Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometry (SME- ICP-MS)
Aplikace
| 2001 | Agilent Technologies
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Determination of iopromide in environmental waters by ion chromatography-ICP-MS
Aplikace
| 2012 | Agilent Technologies
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Životní prostředí
Determination of Ultratrace Impurities in Semiconductor Photoresist Using ICP-MS/MS
Aplikace
| 2023 | Agilent Technologies
ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Robust Elemental Analysis of Sodium-Ion Battery Cathode Materials Using ICP-OES
Aplikace
| 2023 | Agilent Technologies
ICP/OES
Instrumentace
ICP/OES
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Průmysl a chemie
Před
1
Další
Mohlo by Vás zajímat
Nový systém čištění vody ELGA Purelab Flex
St, 8.5.2024
Česká voda – MEMSEP, a.s.
FACT …to funguje (Agilent ICP-OES)
Út, 7.5.2024
Altium International
Podcast CHEmic #27 – Je třeba změnit výuku chemie i učebnice, myslí si Adam Jaroš z ÚOCHB