ICPMS
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
    1. Databáze

    1. Zaměření

    1. Instrumentace

    1. Výrobce

    1. Autor

    1. Typ Publikace

    1. Rok vydání

    Measurement of Sodium and Potassium in Portland Cement by Flame Atomic Absorption Method

    Aplikace
    | 2012 | Shimadzu
    AAS
    Instrumentace
    AAS
    Výrobce
    Shimadzu
    Zaměření
    Průmysl a chemie

    Analysis of Elements in Cement Using ICPE-9820

    Aplikace
    | 2015 | Shimadzu
    MP/ICP-AES
    Instrumentace
    MP/ICP-AES
    Výrobce
    Shimadzu
    Zaměření
    Průmysl a chemie

    Analysis of Ultratrace Impurities in High Purity Copper using the Agilent 8900 ICP-QQQ

    Aplikace
    | 2018 | Agilent Technologies
    ICP/MS, ICP/MS/MS
    Instrumentace
    ICP/MS, ICP/MS/MS
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Průmysl a chemie, Polovodiče

    Are you measuring ICP-OES samples more than once?

    Příručky
    | 2019 | Agilent Technologies
    ICP/OES
    Instrumentace
    ICP/OES
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření

    14 Causes of Metals Analysis Failure

    Příručky
    | 2020 | Agilent Technologies
    ICP/OES
    Instrumentace
    ICP/OES
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření

    Simultaneous Analysis of Minerals in Powdered Infant Formula

    Aplikace
    | 2022 | Shimadzu
    ICP/MS
    Instrumentace
    ICP/MS
    Výrobce
    Shimadzu
    Zaměření
    Potraviny a zemědělství

    Trace Metal Analysis of Waters using the Carbon Rod Atomizer — a Review

    Aplikace
    | 2010 | Agilent Technologies
    AAS
    Instrumentace
    AAS
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Životní prostředí

    Agilent Atomic Spectroscopy: AA, MP-AES, ICP-OES, ICP-MS, ICP-QQQ

    Postery
    | 2021 | Agilent Technologies
    ICP/MS, ICP/OES, AAS, ICP/MS/MS, MP/ICP-AES
    Instrumentace
    ICP/MS, ICP/OES, AAS, ICP/MS/MS, MP/ICP-AES
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření

    Dedicated axial or radial plasma view for superior speed and performance

    Technické články
    | 2012 | Agilent Technologies
    ICP/OES
    Instrumentace
    ICP/OES
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření

    Synchronous Vertical Dual View (SVDV) for superior speed and performance

    Technické články
    | 2016 | Agilent Technologies
    ICP/OES
    Instrumentace
    ICP/OES
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
     

    Mohlo by Vás zajímat


    FACT …to funguje (Agilent ICP-OES)

    Út, 7.5.2024
    Altium International

    Altium: Akční nabídka květen - srpen 2024

    Út, 14.5.2024
    Altium International

    CSSC & MSMS 2024 (Program konference, přednášející)

    Út, 14.5.2024
    Spektroskopická společnost Jana Marka Marci
    Další projekty
    Sledujte nás
    Další informace
    WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
    LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.