Direct swab method procedure using TOC-V and SSM-5000A
Technické články
| N/A | Shimadzu
TOC
Instrumentace
TOC
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
Analysis of TiO2 Nanoparticles in Foods and Personal Care Products by Single Particle ICP-QQQ
Aplikace
| 2019 | Agilent Technologies
ICP/MS, ICP/MS/MS
Instrumentace
ICP/MS, ICP/MS/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Potraviny a zemědělství, Ostatní
Characterization of Surface Metal Contamination on Silicon Wafers Using Surface Metal Extraction Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometry (SME- ICP-MS)