ICPMS
Rozcestník
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
Language English

    1. Databáze

    1. Zaměření

    1. Instrumentace

    1. Výrobce

    1. Autor

    1. Typ Publikace

    1. Rok vydání

    TRANSMISSION MODULE FOR THE AGILENT CARY 630 FTIR

    Ostatní
    | 2013 | Agilent Technologies
    FTIR Spektroskopie
    Instrumentace
    FTIR Spektroskopie
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření

    Agilent I-AS Clean Autosampler

    Ostatní
    | 2022 | Agilent Technologies
    ICP/MS, ICP/MS/MS
    Instrumentace
    ICP/MS, ICP/MS/MS
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření

    CARY 630 FTIR COMPONENTS BACKED WITH CONFIDENCE

    Ostatní
    | 2016 | Agilent Technologies
    FTIR Spektroskopie
    Instrumentace
    FTIR Spektroskopie
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření

    Shimadzu AA-7800 Series

    Brožury a specifikace
    | 2024 | Shimadzu
    AAS
    Instrumentace
    AAS
    Výrobce
    Shimadzu
    Zaměření

    Agilent 5110 ICP-OES

    Brožury a specifikace
    | 2019 | Agilent Technologies
    ICP/OES
    Instrumentace
    ICP/OES
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření

    DIALPATH ACCESSORY FOR THE AGILENT CARY 630 FTIR

    Ostatní
    | 2013 | Agilent Technologies
    FTIR Spektroskopie
    Instrumentace
    FTIR Spektroskopie
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření

    Resilient Vertical Torch Means Less Cleaning, Less Downtime, and Fewer Replacements—Even for Tough Samples

    Technické články
    | 2019 | Agilent Technologies
    ICP/OES
    Instrumentace
    ICP/OES
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření

    Benefits of a vertically oriented torch—fast, accurate results, even for your toughest samples

    Technické články
    | 2018 | Agilent Technologies
    ICP/OES
    Instrumentace
    ICP/OES
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření

    Using ICP-MS/MS with M-Lens for the analysis of high silicon matrix samples

    Postery
    | 2020 | Agilent Technologies (ASMS)
    ICP/MS, ICP/MS/MS
    Instrumentace
    ICP/MS, ICP/MS/MS
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Polovodiče

    APWC: Interference-free Measurement of Trace Mercury in Tungsten-rich Cosmetic Sample using ICP-QQQ

    Postery
    | 2017 | Agilent Technologies
    ICP/MS, ICP/MS/MS
    Instrumentace
    ICP/MS, ICP/MS/MS
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Ostatní
     

    Mohlo by Vás zajímat

    ‌

    Aktualizace služeb: Úspěšná akreditace a rozšíření nabídky

    St, 24.4.2024
    ALS Czech Republic
    ‌

    ANALYTIKA: Setkejte se s námi na veletrzích a konferencích

    Po, 22.4.2024
    ANALYTIKA
    ‌

    Představení systému Metrohm OMNIS NIRS

    Po, 22.4.2024
    Metrohm Česká republika
    ‌
    Další projekty
    Sledujte nás
    Další informace
    WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
    LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.