WCPS: Ultratrace Analysis of Phosphorus, Boron and Other Impurities in Photovoltaic Silicon and Trichlorosilane by ICP-MS with High Energy Collision Cell
Postery
| 2011 | Agilent Technologies
ICP/MS
Instrumentace
ICP/MS
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Polovodiče
Identification of Narcotics and Cutting Agents in Mixtures with the Agilent FTIR Forensics Analyzer Package
Aplikace
| 2022 | Agilent Technologies
FTIR Spektroskopie
Instrumentace
FTIR Spektroskopie
Výrobce
Agilent Technologies
Zaměření
Forenzní analýza a toxikologie
Microfocus X-Ray Inspection System Xslicer SMX-6010
Brožury a specifikace
| 2023 | Shimadzu
X-ray
Instrumentace
X-ray
Výrobce
Shimadzu
Zaměření
ON THE SEPARATION AND STRENGTHENING OF THE IMAGE BEHIND THE MIRROR (DERACEMIZATION AND CHIRALITY AMPLIFICATION)
Vědecké články
| 2023 | Chemické listy
Instrumentace
Výrobce
Zaměření
Ultra trace measurement of potassium and other elements in ultrapure water using the Agilent 8800 ICP-QQQ in cool plasma reaction cell mode