ICPMS
Rozcestník
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.
Language English

    1. Databáze

    1. Zaměření

    1. Instrumentace

    1. Výrobce

    1. Autor

    1. Typ Publikace

    1. Rok vydání

    Lowering the Cost of Fluoropolymer Components in Semiconductor Manufacturing

    Technické články
    | 2021 | Savillex
    Spotřební materiál
    Instrumentace
    Spotřební materiál
    Výrobce
    Savillex
    Zaměření
    Polovodiče

    Determination of Ultratrace Impurities in Semiconductor Photoresist Using ICP-MS/MS

    Aplikace
    | 2023 | Agilent Technologies
    ICP/MS, ICP/MS/MS
    Instrumentace
    ICP/MS, ICP/MS/MS
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Polovodiče

    Determination of Organic Contaminants in Sulfuric Acid using Wet Oxidation Type Total Organic Carbon Analyzer

    Aplikace
    | 2018 | Shimadzu
    TOC
    Instrumentace
    TOC
    Výrobce
    Shimadzu
    Zaměření
    Průmysl a chemie

    Agilent ICP-MS Journal (October 2020, Issue 82)

    Ostatní
    | 2020 | Agilent Technologies
    HPLC, ICP/MS, Speciační analýza, ICP/MS/MS
    Instrumentace
    HPLC, ICP/MS, Speciační analýza, ICP/MS/MS
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Životní prostředí, Potraviny a zemědělství, Průmysl a chemie, Polovodiče

    Technical Overview and Performance Capability of the Agilent 7900s ICP-MS for Semiconductor Applications

    Technické články
    | 2020 | Agilent Technologies
    ICP/MS
    Instrumentace
    ICP/MS
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Polovodiče

    Agilent ICP-MS Journal (April 2020, Issue 80)

    Ostatní
    | 2020 | Agilent Technologies
    Software, ICP/MS, ICP/MS/MS
    Instrumentace
    Software, ICP/MS, ICP/MS/MS
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Polovodiče

    Ultra trace measurement of potassium and other elements in ultrapure water using the Agilent 8800 ICP-QQQ in cool plasma reaction cell mode

    Aplikace
    | 2014 | Agilent Technologies
    ICP/MS, ICP/MS/MS
    Instrumentace
    ICP/MS, ICP/MS/MS
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Polovodiče

    Measuring Inorganic Impurities in Semiconductor Manufacturing

    Příručky
    | 2022 | Agilent Technologies
    GC, ICP/MS, Speciační analýza, ICP/MS/MS
    Instrumentace
    GC, ICP/MS, Speciační analýza, ICP/MS/MS
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Polovodiče

    Agilent ICP-MS Journal (November 2019. Issue 78)

    Ostatní
    | 2019 | Agilent Technologies
    ICP/MS, ICP/MS/MS
    Instrumentace
    ICP/MS, ICP/MS/MS
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Životní prostředí, Polovodiče

    Direct Measurement of Metallic Impurities in 20% Ammonium Hydroxide by 7700s/7900 ICP-MS

    Aplikace
    | 2017 | Agilent Technologies
    ICP/MS
    Instrumentace
    ICP/MS
    Výrobce
    Agilent Technologies
    Zaměření
    Polovodiče
     

    Mohlo by Vás zajímat

    ‌

    Nový systém čištění vody ELGA Purelab Flex

    St, 8.5.2024
    Česká voda – MEMSEP, a.s.
    ‌

    FACT …to funguje (Agilent ICP-OES)

    Út, 7.5.2024
    Altium International
    ‌

    LABOREXPO & PROCESEXPO 2024 (doprovodný odborný program)

    Čt, 16.5.2024
    LabRulez
    ‌
    Další projekty
    Sledujte nás
    Další informace
    WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
    LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.