High-Speed Mapping Measurement of Micro Sample Using IRXross™/AIM-9000
Aplikace | 2022 | ShimadzuInstrumentace
Analytická charakterizace mikroskopických znečišťujících částic je klíčová v oblastech kvality materiálů, farmacie, potravinářství či průmyslové výroby. Rychlá lokalizace a identifikace stopových kontaminantů zvyšuje efektivitu kontroly a minimalizuje náklady spojené s kontaminací.
Cílem článku je představit postup vysokorychlostního mapování mikroskopických vzorků na PTFE filtru pomocí kombinace Fourierovy transformace infračervené spektroskopie IRXross a infračerveného mikroskopu AIM-9000. Studie demonstruje možnosti zkrácení doby analýzy a zlepšení propustnosti při lokalizaci kontaminantů na velikostech řádu stovek mikrometrů.
Vzorek: PTFE filtrační papír s mikroskopickými nečistotami.
Metoda: transmisní měření v rozsahu 4000–700 cm⁻¹.
Mapovací oblast: 250 µm × 250 µm, apertury 25 µm × 25 µm, krok 25 µm.
Rozlišení: 16 cm⁻¹, počet akumulací pro mapování: 1x, pro detailní spektrum: 40×.
Detektor: MCT s vysokou odezvou.
Proběhlo mapování 100 bodů za přibližně 60 sekund, což umožnilo rychlou vizualizaci distribuce kontaminantu chemickým obrazem. Lokalizovaná oblast vykazovala charakteristické IR signály. Identifikace pomocí spektrální knihovny ukázala shodu s polypropylenem (PP), přičemž odchylky v pásmech 1280–1100 cm⁻¹ byly připsány absorpci PTFE filtru.
Ultrarýchlé mapování umožňuje:
Očekává se rozšíření automatizace s umělou inteligencí pro rozpoznávání spektrálních vzorů, použití menších apertur pro vyšší prostorové rozlišení, integrované pracovní postupy s dávkovacími systémy a aplikace v biologii, medicíně či polymerních materiálech.
Kombinace FTIR spektrometru IRXross a mikroskopu AIM-9000 nabízí vysoce citlivou a rychlou analytickou platformu pro mapování mikroskopických cílových ploch. Tato metoda výrazně zvyšuje efektivitu a přesnost detekce kontaminantů v různých průmyslových i výzkumných oblastech.
FTIR Spektroskopie
ZaměřeníMateriálová analýza
VýrobceShimadzu
Souhrn
Význam tématu
Analytická charakterizace mikroskopických znečišťujících částic je klíčová v oblastech kvality materiálů, farmacie, potravinářství či průmyslové výroby. Rychlá lokalizace a identifikace stopových kontaminantů zvyšuje efektivitu kontroly a minimalizuje náklady spojené s kontaminací.
Cíle a přehled studie
Cílem článku je představit postup vysokorychlostního mapování mikroskopických vzorků na PTFE filtru pomocí kombinace Fourierovy transformace infračervené spektroskopie IRXross a infračerveného mikroskopu AIM-9000. Studie demonstruje možnosti zkrácení doby analýzy a zlepšení propustnosti při lokalizaci kontaminantů na velikostech řádu stovek mikrometrů.
Použitá metodika a instrumentace
Vzorek: PTFE filtrační papír s mikroskopickými nečistotami.
Metoda: transmisní měření v rozsahu 4000–700 cm⁻¹.
Mapovací oblast: 250 µm × 250 µm, apertury 25 µm × 25 µm, krok 25 µm.
Rozlišení: 16 cm⁻¹, počet akumulací pro mapování: 1x, pro detailní spektrum: 40×.
Detektor: MCT s vysokou odezvou.
Použitá instrumentace
- FTIR spektrometr Shimadzu IRXross (KBr okno)
- Infračervený mikroskop Shimadzu AIM-9000
- MCT detektor (merkur, kadmium, tellur)
Hlavní výsledky a diskuse
Proběhlo mapování 100 bodů za přibližně 60 sekund, což umožnilo rychlou vizualizaci distribuce kontaminantu chemickým obrazem. Lokalizovaná oblast vykazovala charakteristické IR signály. Identifikace pomocí spektrální knihovny ukázala shodu s polypropylenem (PP), přičemž odchylky v pásmech 1280–1100 cm⁻¹ byly připsány absorpci PTFE filtru.
Přínosy a praktické využití metody
Ultrarýchlé mapování umožňuje:
- Výrazné zkrácení doby analýzy při zachování citlivosti
- Rychlou lokalizaci transparentních či bílých částic
- Zvýšení propustnosti laboratoře a úsporu času operátora
Budoucí trendy a možnosti využití
Očekává se rozšíření automatizace s umělou inteligencí pro rozpoznávání spektrálních vzorů, použití menších apertur pro vyšší prostorové rozlišení, integrované pracovní postupy s dávkovacími systémy a aplikace v biologii, medicíně či polymerních materiálech.
Závěr
Kombinace FTIR spektrometru IRXross a mikroskopu AIM-9000 nabízí vysoce citlivou a rychlou analytickou platformu pro mapování mikroskopických cílových ploch. Tato metoda výrazně zvyšuje efektivitu a přesnost detekce kontaminantů v různých průmyslových i výzkumných oblastech.
Obsah byl automaticky vytvořen z originálního PDF dokumentu pomocí AI a může obsahovat nepřesnosti.
Podobná PDF
Microplastic Analysis Using the AIM-9000 Infrared Microscope
2018|Shimadzu|Aplikace
LAAN-A-FT-E100 Application News No. A582 Spectrophotometric Analysis Microplastic Analysis Using the AIM-9000 Infrared Microscope Microplastics are minute pieces of plastic with diameters ranging from a few micrometers to a couple of millimeters. In recent years, microplastics have become a global…
Klíčová slova
microplastics, microplasticsmicroplastic, microplasticscrubs, scrubsinfrared, infraredsqr, sqrscrub, scrubmarine, marineprimary, primarycoastal, coastaltriangle, triangleapodization, apodizationmapping, mappingmct, mctmicroscopic, microscopicaperture
Fourier Transform Infrared Spectrophotometer IRXross
2024|Shimadzu|Brožury a specifikace
C103-E135 Fourier Transform Infrared Spectrophotometer IRXross IR, Xross over The IRXross ™ creates a new concept for infrared spectroscopy. It offers the optimal solution for a new era with diverse application requirements. Hi gh - En d S e n…
Klíčová slova
labsolutions, labsolutionsdehumidifier, dehumidifierhumidity, humidityirxross, irxrossprogram, programprism, prismtracking, trackingproject, projectcontaminant, contaminanttransmittance, transmittancelibrary, libraryapplications, applicationswindow, windowinterferometer, interferometermanagement
Infrared Microscope AIMsight
2026|Shimadzu|Brožury a specifikace
C103-E142D Infrared Microscope AIMsight An automatic analysis system that can be used with confidence from your first analysis Equipped as standard with enhanced functionality to support analyses Wide-field camera Automatic contaminant recognition system Highest class S/N Length measurement function Original…
Klíčová slova
aimsight, aimsightinfrared, infraredabs, absmeasurement, measurementimage, imagecamera, cameracontaminant, contaminantvisible, visiblespectra, spectraatr, atrfunction, functionmicroscope, microscopemicroplastics, microplasticsprogram, programfilm
FTIR Series and Infrared/Raman Microscope Accessories
2024|Shimadzu|Brožury a specifikace
C103-E417 Accessories for Fourier Transform Infrared Spectrophotometers and Raman Spectrophotometer FTIR Series and Infrared/Raman Microscope Accessories Selection of FTIR/Raman and Optional Accessories Flow Chart for Selecting Attachments Rubbers FTIR is a method of measuring the light that is transmitted or…
Klíčová slova
reflectance, reflectancereflection, reflectioninfrared, infraredholder, holderprism, prismmeasurement, measurementatr, atrattachment, attachmentdescription, descriptionnda, ndaftir, ftirdiffuse, diffusequantity, quantitykbr, kbrcell