Dedicated axial or radial plasma view for superior speed and performance
Technické články | 2012 | Agilent TechnologiesInstrumentace
Induktivně vázaná plazma s optickou emisní spektrometrií (ICP-OES) je klíčová technika v analytické chemii pro kvantitativní stanovení prvků v široké škále vzorků. Optimalizace pohledu na plazmu (axiální nebo radiální) významně ovlivňuje citlivost, linearitu a rychlost analýzy. Inovativní konstrukce přináší lepší výkon a nižší provozní náklady ve srovnání s tradičními duálními systémy.
Cílem je představit technické řešení Agilent 700 Series ICP-OES, které využívá dedikovaný axiální nebo radiální pohled na plazmu bez kompromisů dual-view systémů. Studie porovnává různé konfigurace plazmy, způsoby ochrany optiky a vliv matričních interferencí, s důrazem na inovativní chlazený kuželový interface (CCI) a vysoce výkonné optické a detekční systémy.
Analytické parametry byly optimalizovány pro:
Studie prokázala, že axiální režim s CCI poskytuje až 5–10× nižší limity detekce než radiální pohled, s rozšířenou lineární dynamikou a sníženými ionizačními interferencemi. Radiální systém naopak nabízí robustnější provoz pro složité matice, kdy je chladná část plazmy mimo optickou dráhu a plyny jsou vedeny do výfuku. Všechny měřené vlnové délky lze zachytit v jednom kroku, což eliminuje potřebu opakovaných měření.
Budoucí vývoj se zaměří na dále zdokonalené interfaces pro eliminaci termické fluktuace, vyšší integraci automatizace vzorků a pokročilé algoritmy pro korekci interferencí v reálném čase. rostoucí poptávka po rychlých a vysoce citlivých analýzách v průmyslu životního prostředí, potravinářství a farmaceutickém sektoru podpoří širší nasazení dedikovaných ICP-OES řešení.
Agilent 700 Series ICP-OES s dedikovaným axiálním nebo radiálním pohledem plazmy nabízí nejvyšší rychlost, citlivost a spolehlivost měření. Inovativní chlazený kuželový interface a vysoce výkonné optické a softwarové nástroje eliminují omezení tradičních duálních systémů a přinášejí významné provozní úspory a zlepšení analytické kvality.
ICP-OES
ZaměřeníVýrobceAgilent Technologies
Souhrn
Význam tématu
Induktivně vázaná plazma s optickou emisní spektrometrií (ICP-OES) je klíčová technika v analytické chemii pro kvantitativní stanovení prvků v široké škále vzorků. Optimalizace pohledu na plazmu (axiální nebo radiální) významně ovlivňuje citlivost, linearitu a rychlost analýzy. Inovativní konstrukce přináší lepší výkon a nižší provozní náklady ve srovnání s tradičními duálními systémy.
Cíle a přehled studie
Cílem je představit technické řešení Agilent 700 Series ICP-OES, které využívá dedikovaný axiální nebo radiální pohled na plazmu bez kompromisů dual-view systémů. Studie porovnává různé konfigurace plazmy, způsoby ochrany optiky a vliv matričních interferencí, s důrazem na inovativní chlazený kuželový interface (CCI) a vysoce výkonné optické a detekční systémy.
Použitá metodika
Analytické parametry byly optimalizovány pro:
- axiální (end-on) a radiální (side-on) pozorování plazmy,
- odstranění chladné oblasti plazmy a minimalizaci matričních efektů,
- využití echelle optiky se současným záběrem 167–785 nm.
Použitá instrumentace
- Agilent 700 Series ICP-OES: výběr axiální nebo radiální konfigurace plazmy
- chlazený kuželový interface (CCI) pro ochranu optiky a odklon plazmového ocasu
- echelle optický systém s kompaktní CCD detekcí pro simultánní měření celého spektra
- ICP Expert II software s funkcí MultiCal pro rozšířený lineární rozsah a ověřování výsledků
Hlavní výsledky a diskuse
Studie prokázala, že axiální režim s CCI poskytuje až 5–10× nižší limity detekce než radiální pohled, s rozšířenou lineární dynamikou a sníženými ionizačními interferencemi. Radiální systém naopak nabízí robustnější provoz pro složité matice, kdy je chladná část plazmy mimo optickou dráhu a plyny jsou vedeny do výfuku. Všechny měřené vlnové délky lze zachytit v jednom kroku, což eliminuje potřebu opakovaných měření.
Přínosy a praktické využití metody
- výrazné zkrácení doby analýzy díky simultánní detekci celého spektra
- snížení spotřeby plynů a provozních nákladů oproti duálním systémům
- vyšší přesnost a spolehlivost výsledků díky minimalizaci matričních efektů
- flexibilita volby optimální konfigurace pro různé typy vzorků (kovy, oleje, geologie, vodní vzorky)
Budoucí trendy a možnosti využití
Budoucí vývoj se zaměří na dále zdokonalené interfaces pro eliminaci termické fluktuace, vyšší integraci automatizace vzorků a pokročilé algoritmy pro korekci interferencí v reálném čase. rostoucí poptávka po rychlých a vysoce citlivých analýzách v průmyslu životního prostředí, potravinářství a farmaceutickém sektoru podpoří širší nasazení dedikovaných ICP-OES řešení.
Závěr
Agilent 700 Series ICP-OES s dedikovaným axiálním nebo radiálním pohledem plazmy nabízí nejvyšší rychlost, citlivost a spolehlivost měření. Inovativní chlazený kuželový interface a vysoce výkonné optické a softwarové nástroje eliminují omezení tradičních duálních systémů a přinášejí významné provozní úspory a zlepšení analytické kvality.
Obsah byl automaticky vytvořen z originálního PDF dokumentu pomocí AI a může obsahovat nepřesnosti.
Podobná PDF
The Latest Advances in Axially Viewed Simultaneous ICP-OES for Elemental Analysis
2010|Agilent Technologies|Technické články
The Latest Advances in Axially Viewed Simultaneous ICP-OES for Elemental Analysis Application Note Inductively Coupled Plasma-Optical Emmision Spectrometers Author Background Michael B. Knowles Inductively Coupled Plasma Optical Emission Spectrometry (ICP-OES) is a popular technique of elemental analysis. ICP is applicable…
Klíčová slova
viewed, viewedicp, icpaxially, axiallywavelengths, wavelengthsoes, oesaxial, axialplasma, plasmasystems, systemsdynamic, dynamiclinear, linearvista, vistacci, cciviewing, viewingrange, rangewavelength
Synchronous Vertical Dual View (SVDV) for superior speed and performance
2014|Agilent Technologies|Technické články
Synchronous Vertical Dual View (SVDV) for superior speed and performance Technical Overview 5100 ICP-OES What is Synchronous Vertical Dual View (SVDV)? The Agilent 5100 ICP-OES revolutionizes ICP-OES analysis. It is designed to run your samples faster, using less gas, without…
Klíčová slova
radial, radialaxial, axialelements, elementsemissions, emissionsdsc, dsceie, eieoes, oesread, readwavelengths, wavelengthsicp, icpvertical, verticallight, lightplasma, plasmaview, viewsynchronously
Synchronous Vertical Dual View (SVDV) for superior speed and performance
2016|Agilent Technologies|Technické články
Synchronous Vertical Dual View (SVDV) for superior speed and performance Technical Overview 5110 ICP-OES What is Synchronous Vertical Dual View (SVDV)? The Agilent 5110 ICP-OES revolutionizes ICP-OES analysis. It is designed to run your samples faster, using less gas, without…
Klíčová slova
radial, radialaxial, axialelements, elementsemissions, emissionsdsc, dsceie, eieoes, oesread, readwavelengths, wavelengthsicp, icpvertical, verticallight, lightplasma, plasmaview, viewsynchronously
Synchronous Vertical Dual View (SVDV) for High Productivity and Low Cost of Ownership
2019|Agilent Technologies|Technické články
Technical Overview Synchronous Vertical Dual View (SVDV) for High Productivity and Low Cost of Ownership Agilent 5900 SVDV ICP-OES Maximize revenue potential The Agilent 5900 Synchronous Vertical Dual View (SVDV) ICP-OES revolutionizes ICP-OES analysis with a series of operational, performance,…
Klíčová slova
radial, radialaxial, axialview, viewdsc, dscsvdv, svdvvertical, verticalelements, elementslight, lightmeasurements, measurementswavelengths, wavelengthsoes, oesemissions, emissionstorch, torchicp, icpsequential