Agilent 5100 ICP-OES
Ostatní | 2014 | Agilent TechnologiesInstrumentace
Indukčně vázaná plazmová spektrometrie s optickou emisí (ICP-OES) představuje klíčovou metodu pro kvantitativní analýzu stopových a hlavních prvků v různých vzorcích. Vývoj zařízení s vyšší analytickou rychlostí, opakovatelností a nižší spotřebou plynu zvyšuje efektivitu laboratoří a snižuje náklady na provoz.
Článek představuje unikátní technologie Agilent 5100 SVDV ICP-OES, které umožňují současné snímání axiálního a radiálního módu plazmy. Cílem je demonstrovat: rychlost měření, stabilitu signálu, úsporu argonu a zjednodušení vývoje metod.
Popis instrumentace:
Klíčové výsledky:
Diskuse zdůrazňuje, že simultánní sběr dat z obou pohledů zvyšuje přesnost při vysokých a nízkých koncentracích a minimalizuje chyby způsobené kolísáním plazmy.
Zavedení SVDV ICP-OES přináší:
Očekává se další rozšíření automatizace s dopravníky vzorků pro vysokoprůchodné provozy, integrace s průtokovou analýzou a rozvoj aplikací pro online monitorování procesů. Technologické vylepšení detektorů může přinést ještě rychlejší odezvu a širší rozsah měření.
Agilent 5100 SVDV ICP-OES představuje průlom v oblasti plazmové spektrometrie díky simultánnímu měření obou emisních režimů, vysoké stabilitě, nízké spotřebě argonu a rychlému zahájení analýzy. To otevírá nové možnosti pro efektivní a přesné stanovení prvků ve vysoce náročných aplikacích.
ICP-OES
ZaměřeníVýrobceAgilent Technologies
Souhrn
Význam tématu
Indukčně vázaná plazmová spektrometrie s optickou emisí (ICP-OES) představuje klíčovou metodu pro kvantitativní analýzu stopových a hlavních prvků v různých vzorcích. Vývoj zařízení s vyšší analytickou rychlostí, opakovatelností a nižší spotřebou plynu zvyšuje efektivitu laboratoří a snižuje náklady na provoz.
Cíle a přehled článku
Článek představuje unikátní technologie Agilent 5100 SVDV ICP-OES, které umožňují současné snímání axiálního a radiálního módu plazmy. Cílem je demonstrovat: rychlost měření, stabilitu signálu, úsporu argonu a zjednodušení vývoje metod.
Použitá metodika a instrumentace
Popis instrumentace:
- Agilent 5100 ICP-OES se synchronním vertikálním duálním režimem (SVDV) a proměnnými konfiguracemi: Synchronous Vertical Dual View, Vertical Dual View, Radial View.
- Dichroic Spectral Combiner (DSC) pro simultánní zachycení axiálního a radiálního světla v jednom měření.
- Solid-state RF generátor a vertikální hořák zajišťující robustní plazmu.
- VistaChip II detektor pro okamžitý start bez předplynování.
Hlavní výsledky a diskuse
Klíčové výsledky:
- Doba analýzy zjednodušena na jedno měření na vzorek, bez potřeby sekvenčního režimu.
- Úspora argonu až o 50 % ve srovnání s konvenčními systémy dvou režimů.
- Long-term stabilita signálu v 25 % roztoku NaCl: < 1,3 % RSD pro široké spektrum prvků po 4 h nepřetržité analýzy.
Diskuse zdůrazňuje, že simultánní sběr dat z obou pohledů zvyšuje přesnost při vysokých a nízkých koncentracích a minimalizuje chyby způsobené kolísáním plazmy.
Přínosy a praktické využití metody
Zavedení SVDV ICP-OES přináší:
- Vyšší průchodnost vzorků a snížení operačních nákladů.
- Zkrácení doby vývoje metod díky intuitivnímu softwaru ICP Expert.
- Zlepšenou spolehlivost výsledků v náročných matricích, např. solných roztocích, chemických a environmentálních vzorcích.
Budoucí trendy a možnosti využití
Očekává se další rozšíření automatizace s dopravníky vzorků pro vysokoprůchodné provozy, integrace s průtokovou analýzou a rozvoj aplikací pro online monitorování procesů. Technologické vylepšení detektorů může přinést ještě rychlejší odezvu a širší rozsah měření.
Závěr
Agilent 5100 SVDV ICP-OES představuje průlom v oblasti plazmové spektrometrie díky simultánnímu měření obou emisních režimů, vysoké stabilitě, nízké spotřebě argonu a rychlému zahájení analýzy. To otevírá nové možnosti pro efektivní a přesné stanovení prvků ve vysoce náročných aplikacích.
Reference
- Agilent Technologies, Inc. Application Note 5991-4835EN, Published July 1, 2014.
Obsah byl automaticky vytvořen z originálního PDF dokumentu pomocí AI a může obsahovat nepřesnosti.
Podobná PDF
Agilent 5110 ICP-OES
2016|Agilent Technologies|Ostatní
DUAL VIEW ICP-OES MINUS THE COMPROMISE Agilent 5110 ICP-OES THE FASTEST, MOST PRECISE ICP-OES... EVER. Agilent’s 5110 Synchronous Vertical Dual View (SVDV) ICP-OES combines speed and analytical performance, so you don’t have to compromise on either. Uncompromised performance Flexible Configurations…
Klíčová slova
vertical, verticalview, viewdual, dualuncompromised, uncompromisedicp, icpoes, oesradial, radialreadback, readbackyour, yourcombiner, combineraxial, axialargon, argonsynchronous, synchronousmeasure, measuretorch
Agilent 5100 ICP-OES
2015|Agilent Technologies|Brožury a specifikace
Agilent 5100 ICP-OES DUAL VIEW ICP-OES MINUS THE WAIT AGILENT 5100 ICP-OES THE FASTEST ICP-OES... EVER. The Agilent 5100 Synchronous Vertical Dual View (SVDV) ICP-OES revolutionizes ICP-OES analysis. With its unique Dichroic Spectral Combiner (DSC) technology, you can now run…
Klíčová slova
torch, torchloader, loaderagilent, agilentvertical, verticalicp, icpoes, oesfbc, fbcyou, youyour, yourhydride, hydrideview, viewguess, guesswavelength, wavelengthdual, dualaligns
Agilent 5110 ICP-OES
2019|Agilent Technologies|Brožury a specifikace
Dual View ICP-OES Minus the Compromise Agilent 5110 ICP-OES The Fastest, Most Precise ICP-OES... Ever Agilent’s 5110 Synchronous Vertical Dual View (SVDV) ICP-OES combines speed and analytical performance, so you don’t have to compromise on either. Uncompromised speed Uncompromised performance…
Klíčová slova
torch, torchyour, yourvertical, verticaluncompromised, uncompromisedsynchronous, synchronouscombiner, combinerdichroic, dichroicicp, icpradial, radialfbc, fbcspectral, spectraloes, oeshydride, hydridedsc, dsceasure
Synchronous Vertical Dual View (SVDV) for superior speed and performance
2014|Agilent Technologies|Technické články
Synchronous Vertical Dual View (SVDV) for superior speed and performance Technical Overview 5100 ICP-OES What is Synchronous Vertical Dual View (SVDV)? The Agilent 5100 ICP-OES revolutionizes ICP-OES analysis. It is designed to run your samples faster, using less gas, without…
Klíčová slova
radial, radialaxial, axialelements, elementsemissions, emissionsdsc, dsceie, eieoes, oesread, readwavelengths, wavelengthsicp, icpvertical, verticallight, lightplasma, plasmaview, viewsynchronously