ICPMS
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.

Shimadzu EDX-7200 X-ray Fluorescence Spectrometer

Brožury a specifikace | 2021 | ShimadzuInstrumentace
X-ray
Zaměření
Výrobce
Shimadzu

Souhrn

Význam tématu


Rentgenová fluorescenční spektrometrie s diskriminačním měřením energie (EDX) patří k nejrychlejším a nejšetrnějším metodám elementární analýzy. Umožňuje nedestruktivní zjišťování chemického složení v široké škále průmyslových odvětví, od metalurgie a elektroniky až po farmaceutický průmysl či potravinářství. Rostoucí požadavky na kvalitu, přesnost i sledování nebezpečných prvků (RoHS, ELV, halogeny) přinášejí potřebu instrumentů s vyšší citlivostí, rychlostí a uživatelskou přívětivostí.

Cíle a přehled studie / článku


Článek popisuje konstrukci a hlavní vlastnosti spektrometru Shimadzu EDX-7200. Cílem je ukázat, jak inovace v detekci (SDD), elektronice a softwaru vedou ke značnému zkrácení doby měření, ke zlepšení opakovatelnosti i snížení hraničních detekčních limitů. Přístroj nabízí automatické volby kolimatorů a filtrů, podporu různých režimů atmosféry a možnosti automatizace sériových měření.

Použitá metodika a instrumentace


Princip metody spočívá v excitaci vzorku rentgenovým zářením, které indukuje emisní fluorescenční záření charakteristické pro jednotlivé prvky (Bohrův model). Přístroj je vybaven následujícími komponentami:
  • X-ray tube s Rh katodou (4–50 kV, 1–1000 µA)
  • Detektor SDD s elektronickým chlazením (bez LN₂)
  • Automatická výměna primárních filtrů (5 typů) a kolimatorů (0,3 / 1 / 3 / 5 /10 mm)
  • Možnost měření v atmosféře, vakuu i s heliovým proplachem
  • Volitelný 12polohový turret pro kontinuální dávkování vzorků
  • Software PCEDX Navi s funkcemi FP metody, tenkovrstvé FP, background FP, automatické kalibrace a generování reportů
  • Možnost integrované analýzy s FTIR prostřednictvím modulu EDXIR-Analysis

Hlavní výsledky a diskuse


Implementace SDD detektoru a optimalizované elektroniky přinesla až 30× vyšší rychlost snímání oproti předchozím modelům, což výrazně zkracuje dobu analýz (až na 1/30 původního času). Hraniční detekční limity stopových prvků (např. Pb v Cu slitinách, Sn ve cínu) se zlepšily až 6×. Energie rozlišení se rovněž zlepšilo, čímž klesá vliv překryvů signálů blízkých prvků. Absence nutnosti používat kapalný dusík snižuje provozní náklady. Testy opakovatelnosti ukazují konzistentní výsledky i při kratších časech měření. Ukázkové aplikace (olovo, chrom, fosfor, titany) potvrzují vysokou přesnost kvantifikace.

Přínosy a praktické využití metody


EDX-7200 lze využít pro:
  • RoHS/ELV/halogen screening a antimonové testy plastů
  • Analýzu kovových slitin, feritů a neželezných kovů
  • Kvantifikaci stopových prvků v olejích, katalyzátorech a surovinách
  • Testy farmaceutických surovin a reziduí katalyzátorů
  • Analýzu keramických, skleněných a cementových materiálů
  • Sledování živin a kontaminantů v půdách, hnojivech a potravinách
  • Kontaminantní screening v plastových či gumových výrobcích
  • Měření tloušťky a složení tenkých vrstev, nástřiků a galvanických povlaků

Budoucí trendy a možnosti využití


Budoucí rozšíření budou zahrnovat dálkové monitorování (IoT/M2M), pokročilou diagnostiku a samoopravné algoritmy využívající AI, dále hloubkovou integraci s jinými analytickými technikami (FTIR, Raman, GC-MS) v jednotné digitální platformě. Automatizace výměny vzorků, pokročilé knihovny materiálů a cloudové služby pro porovnávání dat zvýší produktivitu i reprodukovatelnost rutinních i výzkumných měření.

Závěr


Spektrometr Shimadzu EDX-7200 představuje pokročilé řešení pro elementární analýzu, které nabízí výrazné zrychlení, citlivější detekci a vyšší spolehlivost výsledků. Kombinace flexibilního vzorkování, pokročilých kvantifikačních metod a uživatelsky přívětivého softwaru umožňuje široké průmyslové i akademické uplatnění.

Obsah byl automaticky vytvořen z originálního PDF dokumentu pomocí AI a může obsahovat nepřesnosti.

PDF verze ke stažení a čtení
 

Podobná PDF

Toggle
Energy Dispersive X-ray Fluorescence Spectrometer EDX-7200
C142-E047D Energy Dispersive X-ray Fluorescence Spectrometer EDX-7200 EDX-7200 Energy Dispersive X-ray Fluorescence Spectrometer One EDX over all others Principle and Features of X-ray Fluorescence Spectrometry Principle of Fluore s cent X- ray G eneration When a sample is irradiated with…
Klíčová slova
ray, raysample, samplefluorescence, fluorescenceanalysis, analysisdispersive, dispersivemeasurement, measurementfilm, filmenergy, energytion, tionkit, kitedx, edxforeign, foreignmatter, matterholder, holderrohs
Shimadzu EDX-8100  X-ray Fluorescence Spectrometer
Shimadzu EDX-8100 X-ray Fluorescence Spectrometer
2023|Shimadzu|Brožury a specifikace
C142-E049 Energy Dispersive X-ray Fluorescence Spectrometer EDX-8100 EDX-8100 Energy Dispersive X-ray Fluorescence Spectrometer One EDX over all others Principle and Features of X-ray Fluorescence Spectrometry Principle of Fluore s cent X- ray G eneration When a sample is irradiated with…
Klíčová slova
ray, raysample, sampleanalysis, analysisedx, edxforeign, foreignmeasurement, measurementholder, holdertion, tionstone, stonematter, matterfunc, funcfilm, filmpress, pressirradiation, irradiationrohs
EDX-8100 - Energy Dispersive X-ray Fluorescence Spectrometer
C142-E049 Energy Dispersive X-ray Fluorescence Spectrometer EDX-8100 EDX-8100 Energy Dispersive X-ray Fluorescence Spectrometer One EDX over all others Principle and Features of X-ray Fluorescence Spectrometry Principle of Fluore s cent X- ray G eneration When a sample is irradiated with…
Klíčová slova
ray, raysample, sampleanalysis, analysisedx, edxforeign, foreignmeasurement, measurementholder, holdertion, tionstone, stonematter, matterfunc, funcfilm, filmpress, pressirradiation, irradiationrohs
Instruments for Analyzing / Evaluating Electronic Device
C10G-E093 Support for Product Evaluation to Quality Control of Electronic Components Instruments for Analyzing / Evaluating Electronic Devices Shimadzu Analytical and Measuring Instruments Used in Electrical/Electronic Fields Electronic devices and semiconductor technologies support a variety of industries and add comfort…
Klíčová slova
measurement, measurementcircuit, circuitray, rayevaluation, evaluationelectronic, electronicobservation, observationboard, boardmicroscope, microscopespm, spmforce, forcefilm, filmimage, imageanalysis, analysismachine, machinesolder
Další projekty
GCMS
LCMS
Sledujte nás
Další informace
WebinářeO násKontaktujte násPodmínky užití
LabRulez s.r.o. Všechna práva vyhrazena. Obsah dostupný pod licencí CC BY-SA 4.0 Uveďte původ-Zachovejte licenci.