Shimadzu EDX-7200 X-ray Fluorescence Spectrometer
Brožury a specifikace | 2021 | ShimadzuInstrumentace
Rentgenová fluorescenční spektrometrie s diskriminačním měřením energie (EDX) patří k nejrychlejším a nejšetrnějším metodám elementární analýzy. Umožňuje nedestruktivní zjišťování chemického složení v široké škále průmyslových odvětví, od metalurgie a elektroniky až po farmaceutický průmysl či potravinářství. Rostoucí požadavky na kvalitu, přesnost i sledování nebezpečných prvků (RoHS, ELV, halogeny) přinášejí potřebu instrumentů s vyšší citlivostí, rychlostí a uživatelskou přívětivostí.
Článek popisuje konstrukci a hlavní vlastnosti spektrometru Shimadzu EDX-7200. Cílem je ukázat, jak inovace v detekci (SDD), elektronice a softwaru vedou ke značnému zkrácení doby měření, ke zlepšení opakovatelnosti i snížení hraničních detekčních limitů. Přístroj nabízí automatické volby kolimatorů a filtrů, podporu různých režimů atmosféry a možnosti automatizace sériových měření.
Princip metody spočívá v excitaci vzorku rentgenovým zářením, které indukuje emisní fluorescenční záření charakteristické pro jednotlivé prvky (Bohrův model). Přístroj je vybaven následujícími komponentami:
Implementace SDD detektoru a optimalizované elektroniky přinesla až 30× vyšší rychlost snímání oproti předchozím modelům, což výrazně zkracuje dobu analýz (až na 1/30 původního času). Hraniční detekční limity stopových prvků (např. Pb v Cu slitinách, Sn ve cínu) se zlepšily až 6×. Energie rozlišení se rovněž zlepšilo, čímž klesá vliv překryvů signálů blízkých prvků. Absence nutnosti používat kapalný dusík snižuje provozní náklady. Testy opakovatelnosti ukazují konzistentní výsledky i při kratších časech měření. Ukázkové aplikace (olovo, chrom, fosfor, titany) potvrzují vysokou přesnost kvantifikace.
EDX-7200 lze využít pro:
Budoucí rozšíření budou zahrnovat dálkové monitorování (IoT/M2M), pokročilou diagnostiku a samoopravné algoritmy využívající AI, dále hloubkovou integraci s jinými analytickými technikami (FTIR, Raman, GC-MS) v jednotné digitální platformě. Automatizace výměny vzorků, pokročilé knihovny materiálů a cloudové služby pro porovnávání dat zvýší produktivitu i reprodukovatelnost rutinních i výzkumných měření.
Spektrometr Shimadzu EDX-7200 představuje pokročilé řešení pro elementární analýzu, které nabízí výrazné zrychlení, citlivější detekci a vyšší spolehlivost výsledků. Kombinace flexibilního vzorkování, pokročilých kvantifikačních metod a uživatelsky přívětivého softwaru umožňuje široké průmyslové i akademické uplatnění.
X-ray
ZaměřeníVýrobceShimadzu
Souhrn
Význam tématu
Rentgenová fluorescenční spektrometrie s diskriminačním měřením energie (EDX) patří k nejrychlejším a nejšetrnějším metodám elementární analýzy. Umožňuje nedestruktivní zjišťování chemického složení v široké škále průmyslových odvětví, od metalurgie a elektroniky až po farmaceutický průmysl či potravinářství. Rostoucí požadavky na kvalitu, přesnost i sledování nebezpečných prvků (RoHS, ELV, halogeny) přinášejí potřebu instrumentů s vyšší citlivostí, rychlostí a uživatelskou přívětivostí.
Cíle a přehled studie / článku
Článek popisuje konstrukci a hlavní vlastnosti spektrometru Shimadzu EDX-7200. Cílem je ukázat, jak inovace v detekci (SDD), elektronice a softwaru vedou ke značnému zkrácení doby měření, ke zlepšení opakovatelnosti i snížení hraničních detekčních limitů. Přístroj nabízí automatické volby kolimatorů a filtrů, podporu různých režimů atmosféry a možnosti automatizace sériových měření.
Použitá metodika a instrumentace
Princip metody spočívá v excitaci vzorku rentgenovým zářením, které indukuje emisní fluorescenční záření charakteristické pro jednotlivé prvky (Bohrův model). Přístroj je vybaven následujícími komponentami:
- X-ray tube s Rh katodou (4–50 kV, 1–1000 µA)
- Detektor SDD s elektronickým chlazením (bez LN₂)
- Automatická výměna primárních filtrů (5 typů) a kolimatorů (0,3 / 1 / 3 / 5 /10 mm)
- Možnost měření v atmosféře, vakuu i s heliovým proplachem
- Volitelný 12polohový turret pro kontinuální dávkování vzorků
- Software PCEDX Navi s funkcemi FP metody, tenkovrstvé FP, background FP, automatické kalibrace a generování reportů
- Možnost integrované analýzy s FTIR prostřednictvím modulu EDXIR-Analysis
Hlavní výsledky a diskuse
Implementace SDD detektoru a optimalizované elektroniky přinesla až 30× vyšší rychlost snímání oproti předchozím modelům, což výrazně zkracuje dobu analýz (až na 1/30 původního času). Hraniční detekční limity stopových prvků (např. Pb v Cu slitinách, Sn ve cínu) se zlepšily až 6×. Energie rozlišení se rovněž zlepšilo, čímž klesá vliv překryvů signálů blízkých prvků. Absence nutnosti používat kapalný dusík snižuje provozní náklady. Testy opakovatelnosti ukazují konzistentní výsledky i při kratších časech měření. Ukázkové aplikace (olovo, chrom, fosfor, titany) potvrzují vysokou přesnost kvantifikace.
Přínosy a praktické využití metody
EDX-7200 lze využít pro:
- RoHS/ELV/halogen screening a antimonové testy plastů
- Analýzu kovových slitin, feritů a neželezných kovů
- Kvantifikaci stopových prvků v olejích, katalyzátorech a surovinách
- Testy farmaceutických surovin a reziduí katalyzátorů
- Analýzu keramických, skleněných a cementových materiálů
- Sledování živin a kontaminantů v půdách, hnojivech a potravinách
- Kontaminantní screening v plastových či gumových výrobcích
- Měření tloušťky a složení tenkých vrstev, nástřiků a galvanických povlaků
Budoucí trendy a možnosti využití
Budoucí rozšíření budou zahrnovat dálkové monitorování (IoT/M2M), pokročilou diagnostiku a samoopravné algoritmy využívající AI, dále hloubkovou integraci s jinými analytickými technikami (FTIR, Raman, GC-MS) v jednotné digitální platformě. Automatizace výměny vzorků, pokročilé knihovny materiálů a cloudové služby pro porovnávání dat zvýší produktivitu i reprodukovatelnost rutinních i výzkumných měření.
Závěr
Spektrometr Shimadzu EDX-7200 představuje pokročilé řešení pro elementární analýzu, které nabízí výrazné zrychlení, citlivější detekci a vyšší spolehlivost výsledků. Kombinace flexibilního vzorkování, pokročilých kvantifikačních metod a uživatelsky přívětivého softwaru umožňuje široké průmyslové i akademické uplatnění.
Obsah byl automaticky vytvořen z originálního PDF dokumentu pomocí AI a může obsahovat nepřesnosti.
Podobná PDF
Energy Dispersive X-ray Fluorescence Spectrometer EDX-7200
2022|Shimadzu|Brožury a specifikace
C142-E047D Energy Dispersive X-ray Fluorescence Spectrometer EDX-7200 EDX-7200 Energy Dispersive X-ray Fluorescence Spectrometer One EDX over all others Principle and Features of X-ray Fluorescence Spectrometry Principle of Fluore s cent X- ray G eneration When a sample is irradiated with…
Klíčová slova
ray, raysample, samplefluorescence, fluorescenceanalysis, analysisdispersive, dispersivemeasurement, measurementfilm, filmenergy, energytion, tionkit, kitedx, edxforeign, foreignmatter, matterholder, holderrohs
Shimadzu EDX-8100 X-ray Fluorescence Spectrometer
2023|Shimadzu|Brožury a specifikace
C142-E049 Energy Dispersive X-ray Fluorescence Spectrometer EDX-8100 EDX-8100 Energy Dispersive X-ray Fluorescence Spectrometer One EDX over all others Principle and Features of X-ray Fluorescence Spectrometry Principle of Fluore s cent X- ray G eneration When a sample is irradiated with…
Klíčová slova
ray, raysample, sampleanalysis, analysisedx, edxforeign, foreignmeasurement, measurementholder, holdertion, tionstone, stonematter, matterfunc, funcfilm, filmpress, pressirradiation, irradiationrohs
EDX-8100 - Energy Dispersive X-ray Fluorescence Spectrometer
2023|Shimadzu|Brožury a specifikace
C142-E049 Energy Dispersive X-ray Fluorescence Spectrometer EDX-8100 EDX-8100 Energy Dispersive X-ray Fluorescence Spectrometer One EDX over all others Principle and Features of X-ray Fluorescence Spectrometry Principle of Fluore s cent X- ray G eneration When a sample is irradiated with…
Klíčová slova
ray, raysample, sampleanalysis, analysisedx, edxforeign, foreignmeasurement, measurementholder, holdertion, tionstone, stonematter, matterfunc, funcfilm, filmpress, pressirradiation, irradiationrohs
Instruments for Analyzing / Evaluating Electronic Device
2022|Shimadzu|Brožury a specifikace
C10G-E093 Support for Product Evaluation to Quality Control of Electronic Components Instruments for Analyzing / Evaluating Electronic Devices Shimadzu Analytical and Measuring Instruments Used in Electrical/Electronic Fields Electronic devices and semiconductor technologies support a variety of industries and add comfort…
Klíčová slova
measurement, measurementcircuit, circuitray, rayevaluation, evaluationelectronic, electronicobservation, observationboard, boardmicroscope, microscopespm, spmforce, forcefilm, filmimage, imageanalysis, analysismachine, machinesolder